控制图与过程能力分析.pptVIP

不良和缺陷控制图的流程 A收集数据 B计算控制限 C过程控制解释 D过程能力解释 建立p图的步骤A Ａ阶段收集数据 A1选择子组的容量、頻率及数量 子组容量 分组頻率 子组数量 A2计算每个子组内的不合格品率 A3选择控制图的坐标刻度 A4将不合格品率描绘在控制图 A1子组容量、頻率、数量 子组容量：用於计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量(例如50~200)以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太大也会有不利之处。 分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾 子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。 A2计算每个子组內的不合格品率 记录每个子组内的下列值 被检项目的数量─n 发现的不合格项目的数量─np 通过这些数据计算不合格品率 A3选择控制图的坐标刻度 描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1.5到2倍。 画图区域 A4将不合格品率描绘在控图上 描绘每个子组的p值，将这些点连成线通常有助於发现异常图形和趋势。 当点描完後，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。 记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。 X-R控制图实例 二、计算总体均值 X-R控制图实例 三、计算控制限 X-R控制图实例 四 、 绘 控 制 图 X-R控制图实例 五、分析判定 观察控制图，Xbar图和R图，发现都有点超出控制界限，故判定生产过程不稳定 六、生产过程解析 追查到超差点对应的日期，分析产生的原因，做好记录，并查找当时的对策 观察图中点的走向，提出制程改善要点 各项改善完成后重新收集数据，做控制图 X-R控制图实例 七、上面求出的分组均值不变时，只把n由4变成5时，重新计算控制限 此问题解答过程在于查表时的A2和D4的值作一个变化即可就出 建立X-R图的步骤D Ｄ过程能力解析 D1计算过程的标准偏差 D2计算过程能力 D3评价过程能力 D4提高过程能力 D5对修改的过程绘制控制图并分析 群体标准差的估計 群体 平均值=μ 标准差=σ 对σ的估计 指數差异说明 10 14 18 T 12 16 μ Cp CPL CPU CPK Cpm 13 2 1.5 2.5 1.5 1.11 T 10 14 18 12 16 10 14 18 T 12 16 μ Cp CPL CPU CPK Cpm 14 2 2.0 2.0 2.0 1.11 μ Cp CPL CPU CPK Cpm 15 2 2.5 1.5 1.5 1.11 例二 请依照上个例子的数据，计算其下列的各項指数結果，假设其规格为：75±5。 Ca Cp Cpk Pp Ppk 控制图的即时性 process TIME REAL TIME 控制图运用说明 收集数据 绘图及計算 控制限 是否异常 延伸控制限 N 找出异常点原因 并提出相应措施 过程有变化 人机料法环测量 Y 何时应用Cmk指数 新机器验收时 机器大修后 新产品试制时 产品不合格追查原因时 在机械应和模具结合在一起考虑 A收集数据，再计算各个子组的平均数和标准差。公式如下 B计算控制界限 C过程控制解释 (同X-R图解釋) D过程能力解析 其余指数同X-R管制图 练习： 收集100个数据，每5个为一组，做成统计表，依据所学的公式，并计算： 1、计算出上表的X-s控制图的控制限？ 2、判定过程是否稳定？ 3、如果是不稳定该如何处理？ 控制图小结 合理使用控制图能 供正在进行过程控制的操作者使用 利于过程在质量上和成本上能持续地，可预测地保持下去 使过程达到 更高的质量 更低的单件成本 更高的有效能力 为讨论过程的性能提供共同的语言 区分变异的原因，作为采取局部措施或对系统采取措施的指南。 A收集数据 一般情況下，中位数图用在样本容量小于10的情況，样本容量为奇数時更为方便。如果子组样本容量为偶数，中位數是中间两个数的均值 B计算控制限 估计过程标准偏差： C过程控制解释 (同X-R图解释) 练习： 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 1 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 72 2 68 75 73 74 78 74 72 74 78 76 74 76 75 79 3 68 77 96 75 78