麦秆皮层硅化物的XPS研究I.PDF

中 国 造 纸 学 报 Vo1．24，No．4，2009 TransactionsofChinaPulpandPaper ．’’’’’’’’’、 2研究论文 ： ^t‘‘Il ‘I．． 麦秆皮层硅化物的XPS研究 (I) 邱玉桂 ， 欧海龙 陈春霞 云 娜 岑丹霞 (1．华南理工人学制浆造纸工程国家重点实验室，广东，州，510640；2．国家纸制品质量监督检验中心，广东东莞 ， 523808；3．广东轻工职业技术学院，J东广州，510300；4．厦门大学分析测试中心，福建厦门，361005) 摘 要：进行麦秆皮层硅化物的XPS测定及分峰拟合分析。结果表明，麦秆不同部位皮层 中的硅化物都是 由有机硅化物和无机硅化 物组成的。有机硅化物主要行线状p-MethylSil、树脂p-PhenylSil、Ph3SiOSiPh3、Ph4Si、Et3SiCI、Et2SiCI2等。无机硅化物的种类更复 杂．主要有硅灰石、云母、钠长石、硅线石、高岭土、分子筛A型及 x型物质以及5种结晶形式的SiO2等。不同部位硅化物的卦f成、 含最不同，将影响其在制浆