圖案化薄膜的多波長橢偏影像對比檢測
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謝富翔 , 王浩偉
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明志科技大學 , 機電工程研究所
E-mail: m941e8015@.tw
工業技術研究院, 量測技術發展中心 , 儀器與感測技術發展組
E-mail: hwwang@.tw
本文探討波長及入射光強對薄膜橢偏影像對比的影響。影像橢偏系統架構上使用起偏器-相位補
償器 -樣品-檢偏器的方法,調整起偏器的方位角與相位補償器的相位角,使特定區域消光,凸顯出消
光區域與非消光區域的影像對比。本研究使用金屬鹵素燈結合單頻儀所產生多波長窄頻光為光源,藉
著特徵波長、高光源強度,及橢偏消光效果,提升圖案化薄膜間的影像對比,實驗結果將與多波長影
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