新型电池样品定量方法.docVIP

X射线衍射（XRD）法测定Ni电极材料结构、半高宽、峰高比及其测定方法的研究 程 群1 北京普析通用仪器有限责任公司 北京 100081 摘 要：通过衍射峰的半高宽和峰高比可以研究Ni电极材料粉末颗粒的微结构特征，本文描述了应用X射线衍射法测定Ni阳电极材料结构、计算其衍射峰的半高宽和峰高比。求解峰高比时改进测定方法，采用定点测量的方法，减小了在密封式管条件下由于计数小而产生很大的计数统计误差1/，使定量更准确。从而可以更好地了解Ni电极材料的电极性能，便于建立工艺条件。 关键词：X射线衍射；Ni阳电极材料；半高宽；峰高比 Study on Determining Nickel Ele