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- 2019-06-15 发布于湖北
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粒子诱发X射线荧光分析Particle Induced X-ray Emission(PIXE) 3.1.引言: 1. 粒子诱发x射线荧光分析(PIXE)是粒子束分析的一个重要分支。 2.其开创者是Sven A. E. Johansson等人[1],于1970年首次开展这方面的工作,并为人们所重视,且日益广泛的被大家采用。 [1] Nuclear Instruments and Methods in Physics Research,84(1970)P141 3.1.引言: 3.2. PIXE分析原理: 粒子束与原子相互作用的物理图像。 3.3. PIXE分析实验设备: 3.4. PIXE定量分析方法 3.4. PIXE定量分析方法 相对测量 单标准测量法 3.4. PIXE定量分析方法 PIXE定量分析获取的谱图实例 图上的横坐标时能量(keV);纵坐标为计数(个)。 Si(Li)探测器介绍 * * Department of Modern Physics in Lanzhou University Lanzhou University 主讲:Zhang Xiaodong 3. PIXE分析具有灵敏、快速、取样少和无损 分析等特点。 4. 该方法对大多数元素(Z≥12)是很灵敏的 其相对灵敏度为PPm(即百万分之一)量级, 可检测的元素含
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