承压设备用原材料、零部件的超声检测和质量分级.ppt

4 承压设备用原材料、零部件的超声检测和质量分级 钢板中常见的缺陷：分层、折迭、白点等，裂纹少见。 薄板＜6mm、中厚板=6~40mm、厚板＞40mm。 4.1 承压设备用钢板超声检测和质量分级 4.1.1 范围 本条适用于板厚为6mm～250mm的碳素钢、低合金钢制承压设备用板材的超声检测和质量分级。 奥氏体钢板材、镍及镍合金板材以及双相不锈钢板材的超声检测也可参照本章执行。 检测方法 中厚板垂直检测的方法有直接接触法和充水耦合法。采用的探头有单晶直探头、双晶探头或聚焦探头。 钢板检测时，一般采用多次底波法。可根据缺陷判断缺陷情况，也可根据底波衰减判断缺陷情况。 4.1.2 探头选用 4.1.2.1 探头的选用应按表1的规定进行。 探头的选择主要包括：频率、直径和结构形式 由于钢板晶粒较细，为得到高的分辨力，选择较高的频率,频率一般为2.5~5。 面积大选大直径，但直径不易过大，因为大探头近场区较大对检测不利，所以一般直径范围φ14～φ30 mm。 选择双晶探头主要考虑盲区小。 4.1.3 标准试块 4.1.3.1 用双晶直探头检测厚度不大于20mm的钢板时，采用如图1所示的CBⅠ标准试块。 4.1.3.2 用单直探头检测厚度大于20mm的钢板时，CBⅡ标准试块应符合图2和表2的规定。试块厚度应与被检钢板厚度相近。如经合同双方协商同意，也可采用双晶直探头进行检测。 4.1.4 基准灵敏度 4.1.4.1 板厚不大于20mm时，用CBⅠ试块将工件等厚部位第一次底波高度调整到满刻度的50%，再提高10dB作为基准灵敏度。 4.1.4.2 板厚大于20mm时，应将CBⅡ试块φ5平底孔第一次反射波高调整到满刻度的50%作为基准灵敏度。 δ＞20mm时用单晶直探头在CBⅡ试块Φ5平底孔试块上校正，由于CBⅡ试块上Φ5平底孔到检测距离固定，标准中表2规定选用试块是利用某一深度的平均灵敏度检测，操作和对比比较方便准确，但是会造成靠近检测面一侧验收偏严，在远离检测面的另一侧灵敏度偏低，验收偏松的现象。 4.1.5 检测方法 4.1.5.1 检测面 可选钢板的任一轧制表面进行检测。若检测人员认为需要或设计上有要求时，也可选钢板的上、下两轧制表面分别进行检测。 4.1.5.2 耦合方式 耦合方式可采用直接接触法或液浸法。 4.1.5.3 扫查方式（用途和要求不同进行选择） a) 探头沿垂直于钢板压延方向，间距不大于100mm的平行线进行扫查。（在钢板上划出等距离的平行线，探头沿列线扫查）在钢板剖口预定线两侧各50mm（当板厚超过100mm时，以板厚的一半为准）内应作100%扫查，扫查示意图见图3。（扫查时探头应有15％的重迭） b）根据合同、技术协议书或图样的要求，也可采用其他形式的扫查。（全面扫查、边缘扫查、格子扫查等） 4.1.6 缺陷的测定与记录 4.1.6.1 在检测过程中，发现下列三种情况之一即作为缺陷： a) 缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于满刻度的50%，即F1≥50%。 b) 当底面第一次反射波（B1）波高未达到满刻度，此时，缺陷第一次反射波（F1）波高与底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50%，即B1100%，而F1/B1≥50%。 c) 底面第一次反射波（B1）波高低于满刻度的50%，即B1＜50%。 d) 确定B1＜50%中缺陷的边界范围或指示长度时，移动探头（单直探头或双直探头）使底面第一次反射波升高到荧光屏满刻度的50%。此时探头中心移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心点即为缺陷的边界点。 e) 当板厚较薄，确需采用第二次缺陷波和第二次底波来评定缺陷时，基准灵敏度应以相应的第二次反射波来校准。(主要考虑到多次叠加效应的影响） 4.1.7 缺陷的评定方法 4.1.7.1 缺陷指示长度的评定规则 单个缺陷按其指示的最大长度作为该缺陷的指示长度。若单个缺陷的指示长度小于40mm时，可不作记录。 4.1.7.2 单个缺陷指示面积的评定规则 a) 一个缺陷按其指示的面积作为该缺陷的单个指示面积。 b) 多个缺陷其相邻间距小于100mm或间距小于相邻较小缺陷的指示长度（取其较大值）时，以各缺陷面积之和作为单个缺陷指示面积。 c） 指示面积不计的单个缺陷见表3。 4.1.7.3 缺陷面积百分比的评定规则 在任一1m×1m检测面积内，按缺陷面积所占的百分比来确定。如钢板面积小于1m×1m，可按比例折算。 4.1.8 钢板质量分级 4.1.8.1 钢板质量分级见表3。 4.1.8.2 在坡口预定线两侧各50mm（板厚大于100mm时，以板厚的一半为准）