dSPC统计过程控制第二版完整课件.ppt

* 陈瑞泉 * 过程控制和过程能力 讨论过程能力时，需考虑两个在一定程度上相对的概念： ▲过程能力 ▲过程能力指数 过程能力由造成变差的普通原因来确定，通常代表过程本身的最佳性能，当过程是在统计受控状态下运行时，过程能力可以得到证实，它与规范无关。 然而，内外部顾客更关心过程能力指数，也就是过程能力与它们的要求（规范）的关系。 * 陈瑞泉 * 过程控制及过程能力 * 陈瑞泉 * 过程能力的理解 TU TL T=TU-TL -3σ 3σ 6σ Cp B T = = T s 6 ＞1 TU TL T=TU-TL -3σ 3σ 6σ Cp B T = = T s 6 =1 TU TL T=TU-TL -3σ 3σ 6σ Cp B T = = T s 6 ＜1 过程结果好于过程目标 过程结果等于过程目标 过程结果差于过程目标 * 陈瑞泉 * 相对于规范限的过程变差 * 陈瑞泉 * 控制界限与规范的比较 UCL CL， LCL USL LSL M ε 将过程的平均值进行调整， 使分布中心与规格中心靠近 UCL CL LCL USL LSL M 改善4M1E，提高过程能力 过程能力满足要求， UCL CL， LCL USL LSL M * 陈瑞泉 * 控制界限与规范的比较 * 陈瑞泉 * 控制界限与规范的比较 * 陈瑞泉 * 计量型数据的过程能力和过程性能指数 过程能力指数CP: 这是一个能力指数，定义为容差 宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达为： CP = USL – LSL/6σR/d2 过程性能指数PP: 这是性能指数，定义为不考虑过 程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达为： PP = USL – LSL/6σs * 陈瑞泉 * 计量型数据的过程能力和过程性能指数 CPU 上限能力指数—上容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达为： CP U = USL–X / 3σR /d 2 CPL 下限能力指数—下容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达为： CP L =X-LSL/3σR /d 2 * 陈瑞泉 * 计量型数据的过程能力和过程性能 CPK 过程能力指数（考虑过程有偏移） 定义为CPU 或 CPL的最小值。它等于过程均值与最近的规范限（规范上限或规范下限）之间的差除以过程总分布宽度的一半（ 3σR /d2）。 PPK 过程性能指数（考虑过程有偏移） 定义为 USL–X/3σs 或 X-LSL/3σs的最小值。用来与Cp和Cpk对比，并测量和确定随时间改进的优先顺序。 * 陈瑞泉 * 控制图的益处 合理使用，控制图能够： 供操作者使用以对过程进行持续的控制。 有助于过程表现一致并可预测。 使过程达到： — 更高的质量 — 更低的单位成本 — 更高的有效能力 为讨论过程的性能提供共同的语言。 区分变差的特殊原因和普通原因，作为采取局部措施或对系统采取措施的指南。 陈瑞泉 * 第二章 控制图 控制图能够被用来监测和评价一个过程。有两种类型的控制图，一种为计量型数据控制图，另一种为计数型数据控制图，过程本身将决定使用哪种类型的控制图。如果取自于过程的数据是离散型的（例如：通过/不通过，可接受/不可接受），则使用计数型数据控制图（如p 图、np 图、c 图、u图） 。如果取自于过程的数据是连续型的（例如：直径、长度）则使用计量型数据控制图（如均值和极差图、均值和标准差图、中位数和极差图、单值和移动极差图）。 陈瑞泉 * 将过程分类的控制图—计数型数据 陈瑞泉 * 控制图的要素 陈瑞泉 * 控制图示例—均值和极差图 陈瑞泉 * 重新计算控制限 陈瑞泉 * 相对于规范限的过程变差 陈瑞泉 * 不受控信号——点超出控制限 陈瑞泉 * 不受控信号——均值控制图上的链 陈瑞泉 * 不受控信号——极差控制图上的链 陈瑞泉 * 不受控信号——控制图中的非随机模型 *