雷尼绍拉曼光谱联用技术及应用——semafm.pptVIP

apply innovation apply innovation Raman-AFM可实现的测量技术 AFM 形貌 力学性质（弹性 / 硬度 / 摩擦力） 磁学性质 热学性质 势差（kelvin探针） …… Raman 化学结构 晶体结构 / 类型 / 质量 /取向 应力（拉力 /压力） 掺杂浓度 化学结构随环境的变化 …… 同点原位测量 同时得到样品形貌及化学信息 TERS 联用！ Raman-SPM应用：硅纳米线 样品提供：Prof M?Kuball, University of Bristol, UK, and Prof J Redwing, Penn?State?University, USA 样品：直径60nm的硅纳米线 同时采集AFM与Raman图像 Raman-SCA-SEM可实现的测量技术 形貌及组成元素 二次电子成像 背散射电子成像 白光成像 阴极射线成像 X射线成像 化学结构组成 拉曼光谱 光致发光光谱 阴极射线发光光谱 SEM 成像 Raman 光谱 Raman-SCA-SEM应用：纳米材料-碳纳米管 SEM成像：可以清晰分辨出两电极间分辨分散排列的碳纳米管 拉曼分析确定 管径 手性 氧化 金属/半导体性质 应力 Data and sample courtesy of Naval Research Laboratory, Washington DC. In addition to topographic imaging, many modern AFMs have the capability to image via a number of different mechanisms including frictional force, phase contrast, amplitude, adhesion and elasticity. Interactions such as electrostatic, magnetic, and thermal can also be mapped as long as the tip is capable of sensing these forces. For example for magnetic force imaging the tip may be coated with iron or nickel. * Renishaw plc * Confidential Page * Renishaw plc * Confidential Page * Page * Page * apply innovation apply innovation * Renishaw plc * Confidential Page * Renishaw plc * Confidential Page *