第3章+晶体缺陷(1)-点缺陷.pptVIP

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第三章 晶体缺陷 引 言 晶体缺陷概述及类型 第一节 点缺陷 第二节 位错-线缺陷 第三节 表面及界面 一、晶体的特征 晶体结构的基本特征:原子(或分子、离子)在三维空间呈周期性重复排列,即存在长程有序。 性能上两大特点:固定的熔点, 各向异性。 周期性、方向性。 引言 晶体缺陷的类型 二、晶体缺陷的含义 晶体点阵结构中周期性势场的畸变; 实际晶体中与理想的点阵结构发生偏差的区域。 理想晶体:质点严格按照空间点阵排列。 实际晶体:存在着各种各样的结构的不完整性。 对晶体的周期性和方向性而言,它的缺陷十分活跃,状态易受外界条件的影响(如温度、载荷、辐射等)而变化。 三、晶体缺陷的类型 (1)按几何形态分类: 点缺陷(在三维空间各方向上尺寸都很小,亦称为零维缺陷 ,如空位、间隙原子和异类原子等 ); 线缺陷(在两个方向上尺寸很小,主要是位错 ); 面缺陷(在空间的一个方向上尺寸很小,另外两个方向上尺寸较大的缺陷,如晶界、相界等 )。 (2)按形成原因分类: 热缺陷; 杂质缺陷; 非化学计量缺陷等。 图3-1 晶体中的点缺陷 (a)空位 (b)杂质质点 (c)间隙质点 图3-2 线缺陷 (a) 刃位错 (b)螺位错 (a) (b) 图3-3 面缺陷-晶界 图3-4 面缺陷-堆积层错 面心立方晶体中的抽出型层错(a) 和插入型层错(b) 图3-5 面缺陷-共格晶面 面心立方晶体中{111}面反映孪晶 左图:陶瓷粉体 右图:烧结后的陶瓷 点缺陷的存在,可以提高扩散系数,促进陶瓷烧结; 面缺陷,陶瓷晶粒间的界面。 第一节 点缺陷 一、点缺陷的概念 二、点缺陷的类型 三、缺陷反应遵循的原则 四、点缺陷的平衡浓度 五、点缺陷与材料行为 图3-6 晶体中的点缺陷 (a)空位 (c)间隙原子 (b)异类原子 (杂质质点) 一、点缺陷的概念 缺陷尺寸处于原子大小的数量级上,在三维空间各方向上的尺寸都很小,亦称零维缺陷。 二、点缺陷的类型 (1)空位(vacancy):晶体中某结点上的原子空缺 肖脱基(Schottky)空位或肖脱基缺陷:脱位原子一般进入其他空位或者逐渐迁移至晶界表面。 弗兰克耳(Frenkel)缺陷:晶体中的原子有可能挤入结点的间隙,形成另一种类型的点缺陷——间隙原子,同时原来的位置也空缺了,产生一个空位,通常把这一对点缺陷(空位和间隙原子)称为弗兰克耳缺陷。 (2)间隙原子(interstitial particle) (弗兰克耳缺陷并不仅只指空位) (3)异类原子或杂质质点(foreign particle) 也可视做晶体的点缺陷,它的原子尺寸或化学电负性与基体原子不一样,它的引入必然导致周围晶格的畸变。 三、缺陷应遵循的法则 点缺陷的存在,破坏了原有原子间的作用力平衡,点缺陷周围的原子必然会离开原有的平衡位置,作相应的微量位移,这就是晶格畸变或应变,它们对应着晶体内能的升高。 但缺陷反应前后应遵循以下法则: (1)位置关系:在化合物MaXb中,无论是否存在缺陷,其正负离子位置数(即格点数)的之比始终是一个常数a/b,即:M的格点数/X的格点数?a/b。如NaCl结构中,正负离子格点数之比为1/1,Al2O3中则为2/3。 (2)质量平衡:与化学反应方程式相同,缺陷反应方程式两边的质量应该相等。需要注意的是缺陷符号的右下标表示缺陷所在的位置,对质量平衡无影响。 (3)电中性:电中性要求缺陷反应方程式两边的有效电荷数必须相等。 四、点缺陷的平衡浓度 (1)平衡点缺陷及其浓度 能量 + 能量 - n ne △U=nu △F= △U-T△S -T△S △F = △U-T△S F:自由能 U:内能 T:温度 S:熵 平衡点缺陷 的浓度 A:材料常数 T:热力学温度 u: 该类型缺陷形成能 k:玻尔兹曼常数 (1)点缺陷的平衡浓度与化学反映速率一样,随温度升高呈指数关系增加。 (2)点缺陷的形成能也以指数关系影响点缺陷的平衡浓度。 由于间隙原子的形成能要比空位高几倍,因此

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