X-γ射线符合测量方法在垒下熔合反应障碍中的应用研究报告人.ppt

X-γ射线符合测量方法在垒下熔合反应障碍中的应用研究 报告人：胡世鹏 指导教师：张焕乔 院 士1 吴晓光 研究员1 孙慧斌 教 授2 1. 中国原子能科学研究院 2. 深圳大学 研究背景和意义 研究的方法 研究结果与结论 总结与展望 4 1 2 3 主要内容 研究背景与意义 垒下重离子熔合反应指的在小于库伦位垒反应条件下 发生的重离子熔合反应。近年来，实验上观察到一个有趣的现象：稳定核束靶组合系统在极深垒下能区测量的熔合截面明显低于用耦合道理论的计算值。这一现象称之为垒下熔合障碍。 Phys.Rev.Lett 89,052701(2002) Phys.Rev.Lett 03,232702(2009) 由于垒下熔合反应涉及到量子隧道穿透和库伦势垒内部核势特性等基本问题，所以有必要去验证以及检验垒下熔合障碍的普遍性！！！ 进行垒下熔合反应研究中需要解决的基本问题之一：截面的测量 测量方法 测量对象 特点 直接测量 熔合反应生成核 （反冲质量谱仪） 对于反冲速度较低的原子核测量较困难 在束测量生成核退激过程发射的γ射线 在束能谱复杂，污染较多 间接测量 离线测量生成核衰变放出的α粒子 易受本底谱影响 离线测量生成核衰变γ射线 离线测量剩余核EC衰变过程中产生的X射线 测量截面的方法 当剩余核通过电子俘获的方式衰变时，可以将对γ射线的测量与对X射线测量结合起来，以降低实验本底，提高测量精度。 测量基本原理 利用原子核电子俘获衰变过程中特征X射线与退激过程 中发射的特征γ射线之间的符合关系，应用符合测量的 基本方法来降低本地，提高测量精度！ 熔合截面计算的原理 截面测量的关键在于符合计数的获取！ X-γ射线符合测量系统 测量系统组成 测量终端 N型HPGe探测器 平面型HPGe探测器 符合逻辑电路 Midas获取系统 测量终端与符合逻辑电路 数据获取与记录 铅室 铁台 小平面探测器 探测器支架 N型HPGe探测器 符合电子学系统 数据获取与记录 后期数据的分析 平面型HPGe探测器 N型HPGe探测器 Y X 开窗 研究结果与讨论 16O+186W?202Pb ? 200Pb +2n 21.5 hr 199Pb +3n 1.5 hr 198Pb +4n 2.4 hr 197Pb +5n 0.14 hr 196Pb +6n 0.62 hr Tl 70.83keV(59.2%) 72.87keV(100%) 82.58keV(34.4%) 84.59keV(10.2%) 实验的基本条件如下 束流能量：84MeV 束流强度：100pnA 靶：186W 270 ?g/cm2 丰度99.79% 衬底：27Al 1.77um 辐照时间：3.5 h 符合测量时间：12 h 束流能量：72MeV 束流强度：92nA 靶：186W 271 ?g/cm2 丰度99.79% 衬底：27Al 1.77um 辐照时间：30 min 符合测量时间：20h 稳定核束靶系统 Vc=66MeV 图 (a) 84MeV条件下，常规型高纯锗记录的单谱；(b)低能射线能区的局部放大图。 单能谱 图(a) 与Tl的特征Kx射线符合的能谱；(b)与198Pb的特征γ射线173.4keV符合的x能谱。 符合开窗谱 结论一： X-γ符合测量方法较好的降低实验本底，突出峰康比。 197Pb的半衰期为 198Pb的半衰期为 查询的方式主要是基于Lawrence Berkeley National Laboratory推出的1998版“Table of Isotopes”以及“Nuclear Data Sheets” 参考值： 结论二： 从测量结果中提取的剩余核的半衰期与标称值相一致。 束流能量72MeV时与X射线符合的γ能谱局部示意图 本底 开窗前 开窗后 199Pb （353.4keV） 198Pb （ 173.4keV ） 72MeV 结论三： 影响截面测量的主要因素来自于γ射线的康普顿散射的影响。 Energy （MeV） Channel Cross-sections（mb） Ref(1) （mb） 72 199Pb 2.8(1) 17.9(0.5) 198 Pb 19(2) 84 198 Pb 341(6) 430(5) 197 Pb 54(9) （1）参考值为文献（ Phys. Rev. C，1995，52 (6) ）给出的总熔合反应截面值 X-γ