李薇薇 去除存储器硬盘基片 后表面污染物的新方法
暋暋暋82 暋 CMP
去除存储器硬盘基片CMP后表面污染物的新方法
李薇薇
( , )
河北工业大学 天津 300130
[ ] ( ) ,
摘 要 提出了硬盘在化学机械全局平整化加工 过程中污染物颗粒吸附在表面的机理 通过分析
暋暋 暋 暋 CMP
、 、 , , ,
清洗中的润湿作用 分散作用 渗透作用和螯合作用 确定了清洗剂的主要成分 分析了聚醚类活性剂的特点 确
。 ,
定了清洗剂中各成分的最佳配比 采用该方法能够有效去除硬盘CMP后表面的污染物 达到硬盘加工的工艺要
求。
[ ] ; ; ; ;
关键词 硬盘 聚醚类活性剂 污染物 清洗
暋 CMP
[中图分类号] [文献标识码] [文章编号] ( )
TQ423.9 暋 暋 暋 A 暋 暋 暋 1001灢3660201003灢0082灢03
NewMethodaboutContaminantsRemovalforStoraeHardDiskafterCMP
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LIWei灢wei
( , , )
HebeiUniversitofTechnolo Tianin300130 China
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