测试嵌入式存储器的标准技术.pdfVIP

51testing 软件测试网软件测试网 软件测试网软件测试网 测试嵌入式存储器的标准技术测试嵌入式存储器的标准技术 测试嵌入式存储器的标准技术测试嵌入式存储器的标准技术 编者按：随着SoC 设计向存储器比例大于 逻辑部分比例的方向发展，高质量的存储 器测试策略显得尤为重要。存储器内置自 测试(BIST)技术以合理的面积开销来对单 个嵌入式存储器进行彻底的测试，可提高 DPM、产品质量及良品率，因而正成为测 试嵌入式存储器的标准技术。 半导体行业向纳米技术的转移已经引起人 们对制造测试工艺的重新思考。由于早先 的良品率要大大低于采用更大规模工艺技术所获得的良品率，并且新缺陷类型正在不断出 现，故半导体制造测试将在保证产品质量方面扮演着更加重要的角色。在传统上，测试技术 主要集中在设计的逻辑部分上，但统计资料显示：今天的设计已经普遍含有50%的嵌入式 存储器，且这部分的比例预计在未来几年中还会加大。很明显，为实现全面的系统级芯片 (SoC)测试，必须制定一种高质量的存储器测试策略。 存储器紧凑的结构特征使其更容易受到各类缺陷的影响。存储器阵列工作模式本质上主要是 模拟的，来自存储器件的弱信号被放大到适当的驱动强度，且存储器单元的信号传输只涉及 到