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如何消除高速电路测试中夹具和探头的影响 赵勇 摘要：当今高速数字电路已经超过10GHz 以上，信号带宽也随之提高，在使用仪器测试 高速信号时，线缆、探头、夹具会降低测试系统带宽，影响信号测试结果。因此，消除探 头对测试结果的影响在高速电路测试中必不可少。本文针对示波器高速数字信号的测试， 介绍如何消除探头和线缆对测试结果的影响及其测试方法。 关键词：去嵌入，校准，示波器，探头 Abstract ： Nowadays the date rate of high speed signal is up to 10Gbps, bandwidth of signal is also increased. When testing high speed signal, fixtures, cable and probes would degraded the test results for their unexpected frequency response. How to remove the impacting effect is most important for accurate test. When oscilloscope is used to test high speed signal, method to remove the effect is introduced in this paper. 在高速电路设计时，测试仪表的测量探测点与需要观测的信号点位置会有区别，去嵌入的 测试方法可以消除探测点与观测信号点之间传输通路的影响，准确得到信号点位置的测试 结果。另外，在高速数字电路测试时，由于信号带宽的提高，测试线缆和探头的频率响应 平坦度会对测试结果产生很大影响，因此，对测试线缆和探头的频响修正和校准非常必要。 本文介绍示波器在高速数字电路信号测试中，为了消除夹具和探头的影响，经常使用 并在实际测试中提高准确度的方法：1.去嵌入测试方法；2.探头、线缆的校准。 一． 示波器的去嵌入测试方法 1．去嵌入技术的测试原理 由于探测方法的限制，某些情况下，测量点与需要观测信号点的位置不在同一点，二 者之间有其他传输通道。例如，测试BGA 封装的高速Serdes 芯片发送端信号，示波器探 头只能测试到PCB 外围连接器或板上测试点的位置，探测不到芯片引脚输出的波形，信 号经过发送芯片到测试点的传输通道后有衰减，示波器测试得到的波形并不是芯片发送端 的波形。对于这类测试问题，可以使用去嵌入技术解决。 示波器去嵌入技术用于信号测量时去除测试夹具、探头、线缆或PCB 等传输通道对信 号的影响，从而获得信号经过传输通道前的波形，如图一所示。 图一 示波器去嵌入技术 去嵌入技术首先测量测试点的波形，然后使用传输通道模型的脉冲响应得到测试点与 发送源端之间的传递函数，测试点波形数据与传递函数做卷积，即可得到发送端的信号波 形。 H (f) × H(f) = 1 C R(t) H(t) = S(t) 上式中，R(t) 为测试点波形，S(t)为发送源端波形。H (f)为传输通道的脉冲响应，H(t) C 为传递函数。 传递函数的计算是去嵌入过程的关键，其准确性主要取决于三点： 1) 传输通道模型的拓扑建立，是否可以为通道中每个影响因子都建立了模型。测 试传输通道可以为夹具、线缆、PCB、探头或者多级通道级联，去嵌入软件需要有能 力为各种测试通道建立正确的模型。常用的通道模型如下： a. 夹具或者线缆模型，用于补偿线缆或夹具损耗，如图2 所示 图2 去嵌入线缆模型 b. 包括发送端模块与接收模块的通道模型，可以全面对发送设备与接收设备以 及线缆做补偿，如图3 所示。 图3 去嵌入发送端与接收端模型 c. 通用传输通道模型。该模型可以用于对几乎所有的测试通道做补偿，例如补 偿示波器探头的测试模型，如图4 。