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MOS-TECH Semiconductor Co.,LTD
功率MOS FET
功率MOS FET 的特性
1. 绝对最大额定值及电特性
1.1 绝对最大额定值
将绝对最大额定值项目的耐压VDSS 、漏极电流ID 和沟道损耗容限Pch ,分别规定为独立的项目。此外,还
表示上述项目在任何使用条件下都不能超过额定值。绝对最大额定值的项目与其他特性之间大多存在着密切的
联系,因此必须注意不要使各个项目同时达到最大额定值。
(1) 漏极/ 源极耐压 VDSS
该项表示在栅极/ 源极之间短路时可外加到漏极/ 源极之间的最大电压。VDSS 因温度的变化而产生波
动。当如图1所示的结温Tj 上升到100°C 时,V(BR)DSS 增加约10%。必须注意当Tj 下降时,V(BR)DSS 也
会以相同的比率下降。
1.20
1.15
1.10
1.05
1.00
S
S 0.95
D
)
R
B I =10mA
( 0.90 D
V VGS=0
0.85
0.80
–50 –25 0 25 50 75 100 125 150
T (°C)
j
图1 相对于结温的V(BR)DSS 变化率
(2) 栅极/ 源极耐压 VGSS
当漏极/ 源极之间短路时,对在栅极/ 源极之间插入保护二极管的器件进行测量,而对于没有保护二极
管的器件无法进行测量。
(3) 漏极电流ID 、漏极峰值电流 ID(peak) 或者ID(pulse)
在沟道损耗容限内,可在漏极连续通入的直流电流最大值用ID 表示,在平均电流不超过ID 的范围内,
可通入的交流漏极电流的峰值用ID(peak) 或者ID(pulse) 表示。
一般情况下工作时的ID 空许值,可根据以下公式进行计算:
Tch max. − Tc
I = (A)
Dmax. ···············································①
ch c R
θ − ⋅ max.
DS(on)
同样,ID(peak) 的容许值也可根据以下公式进行计算
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