SPC统计过程控制详述.ppt

* * * * 由于#8数据点超出上界，分析原因后，将其删除重新计算控制线 （三）单值-极差控制图（x-Rs图） 在一些场合取一个子组不可能或不实际： 测单个值需要很长时间 用破坏性试验方法获得测量值 任一时刻质量相对是均匀的 有时一次仅能获得一个观察值，如原材料的性能、仪表读数等 在使用单值图时，要求数据服从正态分布 为制订控制界限，首先要收集k个子组数据（即k个样本），每一组的大小（即样本容量）为 1，第 i 组的数据记为xi，并对计算移动极差。 对i=2,3, …,k有：Ri = xi - xi-1 ，再计算它们的平均值： 控制线如下： CL UCL LCL 其中E2=3/d2 =2.66，D4=3.27，D3=0 图 R图 （四）中位数-极差控制图（ -R图） 中位数控制图主要用于判断生产过程的均值是否处于或保持在所要求的统计控制状态。 极差控制图主要用于判断生产过程的标准差是否处于或保持在所要求的统计控制状态。 两张图一起用，称为中位数-极差控制图。 为制订控制界限，首先要收集k个子组数据（即k个样本），每一组的大小（即样本容量）为 n，第 i 组的数据记为xij，并对每一样本计算样本中位数与样本极差。 对i=1,2, …,k有： ，Ri ，再计算它们的平均值： 用极差控制图时要求n10 由于 因此均值-极差控制图的中心线分别是 上下控制界限分别是 控制线如下： CL UCL LCL 在新的国家标准中， 将用 表示。 图 R图 数 值 表 四、计数控制图 计件控制图： 只考虑是否具有某种特性譬如：产品是否合格，记录不合格的产品数。 常用的控制图是： 不合格品率控制图（p图） 不合格品数控制图（np图） 它基于二项分布，仅有一个参数。 计点控制图： 记录所考察的个体或一定量、一定面积上某种特性出现的次数 譬如： 一个铸件上的气孔数 一匹布上的疵点数 常用的控制图是： 缺陷数控制图（c图） 单位缺陷数控制图（u图） 它基于泊松分布，仅有一个参数。 采用计数控制图的优点： 数据的获得比较容易，一般不需要专门的收集技术。 计件控制图控制界限如下： p图 CL UCL LCL 当样本大小n不等时，UCL与LCL将随之而变化 当样本大小相差不大时 即ni在 与 之间时用 代替ni 当LCL0时，取LCL=0 当样本容量相等时，可以用np图 控制界限如下： np图 CL UCL LCL 当LCL0时，取LCL=0 例3 某电镀件25批产品中的外观质量不合格的件数如下，试作p图。 序号 样本容量 不合格品数 1 724 48 2 763 83 3 748 70 4 748 85 5 724 45 6 727 56 7 726 48 8 719 67 9 759 37 10 745 52 11 736 47 12 739 50 13 723 47 14 748 57 15 770 51 16 756 71 17 719 53 18 757 33 19 760 29 20 737 49 21 750 61 22 752 39 23 726 50