第7章-点阵常数的测定.pptVIP

第七章 点阵常数精确测定 点阵常数是晶体的重要基本参数，随化学组分和外界条件(T,P)而变。 材料研究中，它涉及的问题有：键合能、密度、热膨胀、固溶体类型、固溶度、固态相变，宏观应力。 点阵常数的变化量很小，约为10－3 nm ,必须精确测定。 任何一种晶体材料的点阵常数都与它所处的状态有关。 当外界条件（如温度、压力）以及化学成分、内应力等发生变化，点阵常数都会随之改变。 这种点阵常数变化是很小的，通常在10-5nm量级。 精确测定这些变化对研究材料的相变、固溶体含量及分解、晶体热膨胀系数、内应力、晶体缺陷等诸多问题非常有作用。所以精确测定点阵常数的工作有时是十分必要的。 7.1 基本原理 7.2 点阵常数测定中的误差来源 7.3 测定方法 7.4 点阵参数精确测定的几个应用 7.1 基本原理 当??一定时，采用高?角的衍射线，面间距（或者立方系物质的点阵参数）误差将减小。 7.2 误差来源 外推法在衍射仪法精确测定点阵参数步骤 1. 峰位的精确测定 测角仪零点校正 0.005o 测试条件：辐射与单色器、试样及粒度、q 50o 、小Slit、Step Scan、小Step(0.01o) 长S.T.(2-5 S)、峰顶计数104、 数据处理：背底、平滑、峰位确定方法 校正：折射、温度 系统误差外推函数的选择 计算 7.4 点阵参数精确测定的应用 固溶体类型与组分测量 钢中马氏体和奥氏体的含碳量 外延层和表面膜厚度的测定 相图的测定 例如，碳在g铁中使面心立方点阵参数数增大；又如，碳在a铁的过饱和固溶体中增加四方度。有许多元素，当它们溶解于作为溶剂的金属中时，将置换溶剂原子，并占据基体点阵的位置。对立方晶系的基体，点阵参数的增大或减小，通常取决于溶质原子和溶剂原子大小的比例。若前者大则点阵参数增大，反之则减小。对非立方晶系的基体，点阵参数可能一个增大，一个减小。据此规律，可以初步判断固溶体的类型。 习 题 * * * * 精确测定点阵参数的物理应用： （1）测定热膨胀系数 （2）计算材料的真实密度 （3）计算简单晶体结构中的原子间距 （4）确定固溶体是间隙式还是替位式 （5）完善更合理的键能概念 （6）完善相平衡图 （7）测定材料中的应力 （8）过饱和固溶体分解过程 （9）固相溶解度曲线的测定 晶体热膨胀系数的测量 ? - sin?关系曲线 X射线测定点阵常数是一种间接方法，它直接测量的是某一衍射线条对应的θ角，然后通过晶面间距公式、布拉格公式计算出点阵常数。 在式中，λ是入射特征X射线的波长，是经过精确测定的，有效数字可达7位数，对于一般分析测定工作精度已经足够了。干涉指数是整数无所谓误差。所以影响点阵常数精度的关键因素是sinθ。 点阵参数测量精度与θ和Δθ的关系 因此，选择角度尽可能高的线条进行测量。 相机半径、 底片伸缩、 试样偏心、 试样吸收 7.2.1 德拜照相法： 总体可写为： ??=??，?=90?-? 对于立方晶系: 当?角接近90?，?接近0，sin ?~ ?; cos ?~1, 简化可得： （1）平板试样的误差 （2）试样表面离轴误差 （3）试样透明度误差 （4）轴向发散误差 7.2.1 衍射仪法： 综合上述四种系统误差，可得： a-水平发散度；s －试样表面离轴距离；R－ 测角仪半径； m －试样的线吸收系数；d1和d2 －入射线和衍射线光路的有效发散角。 其中， 一、不能利用外推函数消除的误差 （1）测角仪机械零点的调整误差， （2）角的驱动匹配误差， （3）计数测量系统滞后的误差， （4）折射校正， （5）温度校正。 7.3 消除误差的方法 (1)、外推法 (2)、Cohen最小二乘法 (3)、标准样校正法 所谓外推法消除系统误差，就是将由若干条衍射线测得的点阵常数，按一定的外推函数f(?)外推到? =90?，这时系统误差为零，即得到精确的点阵常数。 7.3.1 外推法 如何外延？ 曲线外推：通常引入人为主观因素。 直线外推：效果好。 若用a0表示点阵常数精确值，则实测的点阵常数a为： 0.03497 0.03558 0.03436 5.43091 79.3174 444 6 0.14514 0.15606 0.13499 5.43104 68.4440 533 5 0.21782 0.24283 0.19538 5.43119 63.7670 620 4 0.35275 0.42041 0.29598 5.43126 57.0409 531 3 0.44419 0.55367 0.35636 5.43142 53.3475 440 2 0.62005 0.84140