实验三 集成触发器的逻辑功能测试.docVIP

实验三集成触发器的逻辑功能测试 一实验目的 1．熟悉JK触发器的基本原理及逻辑功能。 2．熟悉D触发器的基本原理及逻辑功能，并掌握其寄存器移位功能。 3．触发器应用。 二、实验仪器及器件 仪器：逻辑箱，数字万用表 器材：74LS74、74LS76 三、实验基本原理 JK触发器有J输入端和K输入端，而其RD端和SD端则具有置“0”置“1”功能，逻辑功能如下： 当J=K=1时，CP脉冲作用下，触发器状态翻转，写成n+1= 当J=K=0时，CP脉冲作用下，触发器保持原状态，写成On+1=n。 当J=1，K=0时，在CP脉冲作用下，触发器置“1”，写成n+1=1。 当J=0，K=1时，在CP脉冲作用下，触发器置“0”，写成n+1=0。 四、触发器的逻辑功能测试： 1．JK触发器（选择74LS76） （1）触发器置“0”“1”的功能测试： 将SD、RD分别接开关Ki+1、Ki，、分别接发光二极管Li+1，Li，按表5—1要求改变SD，RD（J，K，CP处于任意状态），并在SDRD作用期间，任意改变J、K、CP的状态，观察和的状态，将结果记录于表5—1。 表5—1JK触发器菜单 SD RD 有CP 无CP 1 0 0 1 0 0 （2）J、K触发器逻辑功能的测试： 将J、K分别接开关，而上述实验中的SD、RD所接开关保持，并置于SD=1，RD=1的状态，时钟CP接单脉冲信号源的输出P+，按表5—2要求，将结果记录于表5—2。 表5—2JK触发器逻辑功能 CP JKn n+1 ↓ 000 ↓ 001 ↓ 010 ↓ 011 ↓ 100 ↓ 101 ↓ 110 ↓ 111 2．D触发器：（选择74LS74） 触发器置“0”置“1”功能的测试： 将SD、RD分别接开关，、分别接发光二极管，按表5—3要求改变SD、RD（D及CP处于任意状态）并在SD、RD作用期间，任意改变D与CP的状态，测试SD、RD的功能，并将测试结果记录于表5—3。 表5—3D触发器SD、RD菜单 SD RD 1 0 0 1 0 0 对D触发器逻辑功能的测试，结果记录于表5—4。 表5—4D触发器逻辑菜单 CPDn n+1　　 ↑00 ↑01 ↑10 ↑11 触发器应用： 用JK触发器（74LS76）组成三位串行累加计数器如下图。 2．用D触发器组成四位移位寄存器如下图。