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紫外-可见-近红外光谱分析系统的搭建与测试 北京信息科技大学光电与通信学院 王晓玲 实验原理 涉及“光辐射测量”的“光度学”和“色度学”两大领域 光、色测量的最重要手段， 客观、统一地评价光源或物体的颜色，CIE 在大量心理学和物理学实验基 础上推荐了“CIE 1931 XYZ 标准色度系统”，其三刺激函数 实验原理 实验原理 CIE1931 XYZ 标准色度系统在实际应用中存在诸如色差容限不均匀等问 题 1960 年 CIE 又推荐了 CIE 1960 UCS 色品图，其颜色坐标由(u,v)表示 1976 年 CIE 又推荐了 1976 UCS 色品图，其颜色坐标由(u’, v’) 表示代替 CIE 1960 UCS 色品图。 这两个色品空间都不是 绝对均匀的，但与(x,y)空间比有了很大的改进， 它们与 CIE 1931 色品图中的(x,y) 存在以下坐标变换关系： 1960年色品图 1976年色品图 基本原理 发光体颜色与一定温度下的黑体辐射光有相同的颜色，即在色 度图上坐标相同，则称该黑体的温度为发光体的色温 三基色荧光粉或荧光灯，它的色度的坐标点一般不处在黑体轨迹上，此 时用相关色温表示 发光体颜色与某一温度下的黑体辐射颜色最接近，则称该 黑体的温度为发光体的相关色温。 CIE 1960 UCS 均匀色品图上，通过发光体的色品坐标点向黑体轨迹作垂线，得到垂足点所对应的黑体温度即为该发光体的相关色温。 测得发光体的色品坐标即可计算出其相应的相关色温。 相同色品坐标的荧光粉或荧光灯照明物体时有的荧光粉或荧光灯的颜色显现能力较强，即显色指数高，反之，显色指数低。 为考核发光体（或照明体）的显色指数，CIE 规定了 14 种标准试验色 计算被测光源和相同色温的黑体辐射(大于 5000K 时,为平均日光辐射)分别照明 试验色板时两者的颜色差 ΔE，即可求得特殊显色指数 Ri： Ri=(100-4.6ΔEi) (i=1～14) 可计算特殊显示指数 R15： R15=(100-4.6ΔE15) 其中，ΔE15 为被测光源和相同色温的黑体辐射大于 5000K 时,为平均日光辐 试验色 1-8 号求得的 8 个特殊显色指数之和的平均值称为一般显色指数 Ra: Ra = 1/8 ∑Ri只要测得被测对象的相对光谱功率分布就可以计算出其色品坐标、相关色温和显色指数。 K 值进行标定，并计算出 Y 值即可测 得其光通量、照度、亮度等光度学参数。 系统工作图 基本原理 测得被测体的光谱功率分布 P(λ)(即在每一光谱 下测其能量值) 计算出被测光源的颜色参数：色品坐标（x,y）和（u,v），相关色温 TC,显色指 数 Ra、Ri(1-15),峰值波长及半宽度 测出 P(λ)是 紫外-可见- 近红外光谱分析系统的根本任务 基本原理 荧光粉被激发出的荧光或置于积分球内光源发出的光线，经 光纤，被汇聚在单色仪的入射狭缝上，经单色仪分光后的单色光由单色仪出射狭 缝射出 由光电倍增管(PMT)转换成电信号，经电路放大处理，A/D 转换，将 数字信号送入计算机。 计算机发出波长控制信号，驱动光栅扫描，实现从200nm～800nm 或 380nm～800nm 或 400～1100nm 的光谱测量。 设光源光谱功率分布为 P(λ),积分球的光谱反射比为 ρ(λ),光纤、光学系统 分布为 P(λ),积分球的光谱反射比为 ρ(λ),光纤、光学系统及滤色片的光谱透射比为 τ(λ),单色仪的衍射效率为 T(λ),PMT 的光谱灵敏度为 S(λ),那么光电流信号 Iph(λ)为: Iph(λ)=P(λ)·ρ(λ)·τ(λ)·T(λ)·S(λ)=P(λ)·K(λ) 定义 K(λ)为测试系统的光谱响应常数, Iph(λ)由信号放大、处理电路和计 算机组成的系统测试获得。K(λ)通常用已知光谱功率分布的标准辐射体(如 2856K 标准 A 光源)对测量系统定标得到。假设用标准光源 S 定标,定标时测得的 光电流为 Iphs(λ)： Iphs(λ)=PS(λ)·ρ(λ)·τ(λ)·T(λ)·S(λ) =PS(λ)·K(λ) (8) 那么测量系统的光谱响应常数： K(λ)=Iphs(λ)/PS(λ) (9) 得到被测光源光谱功率分布 P(λ)： P(λ) = Iph(λ) =K (λ)Iph(λ) 实现一般光谱辐射计的光谱辐射和颜色参数的测量以外，其更优异 的特性在于它有机结合了积分法光度测试和分光法光度测试的优点，实现了宽动 态范围的光度线性，同时消除了由于标准光源与被测光源强弱差异而引起的误差 和异谱误差. 采样过程 三、采样技术 包括基本型和 SSA 型两种规格， 采用的是 Static（静态采样技术）：利用步进电机能提供精确定位的原理，通过电