金邦内存条测试报告.docVIP

  • 544
  • 0
  • 约1.15千字
  • 约 3页
  • 2019-08-05 发布于江西
  • 举报
湖南长城信息金融设备有限责任公司 第 PAGE 3 页 共 NUMPAGES 3 页 金邦内存条测试报告 参测内存条规格参数信息 内存条品牌 GeIL金邦 颗粒型号 GL_1L128M0888A15F E037A8F0848S 内存条型号 GeIL CL9-9-9 DDR3-1333 颗粒数量 16/双面 内存容量 2G 内存速度 DDR3-1333(667MHz) 模块类型 SO-DIMM 存取方式 DDR3 SDRAM 测试环境 硬件环境 CPU型号 Intel Atom CPU N455@1.66GHz 硬盘型号 WD2500BEVT-60A23T0 BIOS版本 AMI BIOS 080016 软件环境 操作系统 Windows XPE 测试软件 EVEREST PassMark BurnInTest Pro v5.3.1036 结构测试 测试目的:主要测试内存条结构设计是否合理,确保内存条在插入DIMM接口后十分牢固,不容易拔出,并且有防呆装置可以避免插反。 测试方法:将内存条进行插入、拔出、反插等操作。 测试记录: 测试项目 说明 测试结果 牢固性 ·插入DIMM接口后是否牢靠 通过 性能测试 1.启动BIOS测试 测试目的:确保开机时能正常进入BIOS并能查看相关信息。 测试方法:开机时按

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档