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功率芯片低空洞率真空共晶焊接工艺研究

D0l:10.3969/j.issn.1001—8972.2013.08.∞6 基毫米波功率芯片最高耐受温度一般为 功率芯片低空洞率真空共晶焊接工艺研究 290℃~300℃,因此可选的最高焊接温度一 贾耀平 间尽量短。 中国西南电子技术研究所,四川成都610056 StudiesofLOw Vac叫mEutectic ProcessofthePower 熔融状态时间:熔融时间及最高焊接 Voidage WeIding Chip Jia 温度直接决定了焊料在焊接过程中与被焊接 Yaoping SOUthwestChinalnstitute0fElectronic 61 面反应生成金属间化合物(IMC)的厚度, Technology,Chengdu0056,China 最高焊接温度越高,熔融时间越长,IMc越 厚;而IMC厚度与焊点剪切强度密切相关, 摘要 此大功率芯片与基体(基板)的连接必须要 IMC厚度在合适范围内时剪切强度较大,且 在功率混合电路中,对功率芯片的组装要求 有十分好的微波接地能力(低欧姆接触)和 随厚度改变变化不大,一旦IMC厚度超过该 热阻小和可靠性高。在这方面传统的芯片组 较好的散热能力,选用合金焊料焊接较为合 合理范围则剪切强度会急剧下降t因此可通 装方法如导电银浆粘接不能满足要求。本文 适。对电阻要求高的二极管,晶体管以及任 过不同熔融时间下焊接的剪切强度来确定合 介绍了一种新的功率芯片组装工艺一一真空 何无钝化、对污染十分敏感的器件都应使用 适的IMC厚度范围及熔融状态时间范围。 共晶焊接工艺,文章选用Au80sn20焊料对金锡共晶焊片。 熔融状态时真空度:为降低氧化及因残 毫米波Ga^s功率芯片的焊接工艺进行了较 留气体造成的空洞缺陷,可在焊接过程进行 为系统深入的研究,对焊接时气体保护、焊 1夹具设计 抽真空处理,但全工艺过程真空环境会降低 片大小、焊接压力、真空工艺过程的施加和 目前广泛使用的毫米波功率芯片(裸芯 加热速率,造成工艺过程时间长,温度不宜 夹具设计等因素进行了试验分析,并实现较 片)一般为GaAs基材,尺寸较小,重量较 控制,为此可采取全过程高纯氮环境,熔融 高的焊接质量,x射线检测结果表明,GaAs 轻,焊接时很容易出现焊料的表面张力将芯 阶段达到最高焊接温度后进行抽真空处理, 功率芯片焊接具有较低的空洞率,焊透率高 片“浮起”,焊料向芯片中间收缩,使芯片 也可达到相同的效果,减少空洞的产生。

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