② 按下列顺序, 各精密接合两次, 同时进行测微器读数(读数可按正负数读, 以J2 型仪器为例, 多于0′, 10′读作正数, 少于0′, 10′读作负数)。 a—A 与(A ±180°)两分划线接合时的读数, 见图(a); b—(A - i)与(A ±180°)两分划线接合时的读数, 见图(b); c—A 与(A ±180° - i)两分划线接合时的读数, 见图(c)。 注:i 为度盘最小分划格值, J1 型仪器为4′, J2 型仪器为20′。 ③ 转动照准部至下一整置位置, 重复以上步骤。 ④ 测微器行差计算: r正= a - b r倒= a - c r =(r正+ r倒)/2 r 与(r正- r倒)的绝对值, J1 型仪器不应超过1″, J2 型仪器不应超过2″, 否则应校正。 5、光学测微器隙动差的测定 隙动差是测微器的测微度盘和活动的光学零件之间的转动存在着间隙而产生的读数误差。虽在精密光学经纬仪设计中增加了一些零件来减少隙动差的影响, 但并不能完全消除, 因此必须进行此项检验。 表现在:测微器“旋进” 或“旋出” 时度盘分划线相重合, 测微器读出不同的读数, 这种读数误差, 即隙动差。 在此项检验中, 为了减少水平度盘和测微器分划系统误
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