IC可靠性与失效分析.docVIP

一、IC可靠度测试 1.可靠度测试的由来 可靠度测试，顾名思义，就是测试产品的可靠程度。它与品质既有区别，又有联系。品质就是产品性能的测量，它回答了一个产品是否合乎SPEC的要求，是否符合各项性能指标的问题；而可靠度则是对产品耐久力的测量，它回答了一个产品生命周期有多长，简单说，它能用多久的问题。所以说品质解决的是现阶段的问题，可靠度解决的是一段时间以后的问题。 随着电子类产品的广泛应用，各大电子系统厂商之间竞争也逐渐加剧。竞争促使各大系统厂商更加重视产品的品质。系统的品质是由零部件的品质决定的。而作为系统产品核心部分的IC品质，对系统产品来说无疑是有着非常重要的影响。因此，IC的可靠度测试被越来越多的IC生产厂家所重视，是构成IC产品的品牌和竞争力的重要方面。 ? 2.可靠度测试的主要内容 可靠性测试，主要内容涵盖四个项目：抗静电和拴锁试验、寿命试验、包装可靠度试验、耐久性试验。相关的测试标准包括：MIT-STD-883E Method 1005.8、JESD22-A108-A、EIAJED- 4701-D101等。 测试项目 测试内容 测试目的 使用的设备 抗静电和拴锁试验 抗静电和拴锁 验证封装之后的IC在运输和使用过程中，对静电的耐力，并使IC的抗静电方面的缺陷早期暴露出来。 ESD Latch up测试机 寿命试验 高温寿命试验、低温寿命试验 通过模拟加速因子（温度、湿