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存在短波极限,说明在一定管电压下,电子与核电场作用时,电子的动能全部变成X光子的能量,这个光子的能量最大,频率最高,对应的波长最短,即 U?, ?min ? 连续X射线强度与靶原子序数Z以及管电压U有关。 Z ?? 原子核场? ? 减速电子的作用 ? ? ? Ek?? 放出的h? ?? I ? U ? ? 1/2mv2 ? ? h? ? ? I ? 二、标识X射线谱 1.产生机制 高速运动的电子与靶原子的内层电子相互作用,与原子内层电子发生碰撞,把能量传递给内层电子,内层电子跑出原子,使原子处于激发状态,高能状态的电子要填补电子的空位,并将多余的能量以光子的形式放射出来,形成标识X射线。 如被打出去的是K层电子,则空出来的位置就会被外面的L层、M层或更外层的电子填补,并在跃迁过程中发出标识X射线。 如被打出去的是K层电子,则空出来的位置就会被外面的L层、M层或更外层的电子填补,其X射线能量等于两个能级的能量差。 Kα线: Kβ线: Kγ线: 这样发出的谱线,通常以Kα、Kβ、Kγ…表示,称为K线系 如果空位出现在L层,电子迁过程中发出标识X射线,这样发出的谱线,通常以Lα、Lβ、Lγ…表示,称为L线系 … 靶原子内层电子的跃迁产生标识X射线谱 不同能级的电子到达同一壳层的空位时发出的谱线组成一个线系,在一个线系中有一个最短的波长,是由自由电子(或近似认为是最外一层的电子)进入该空位时产生。 2.标识谱特性 对于一定的靶物质的原子,标识谱线的波长是一个定值,与管电压无关; 靶原子序数越高,各线系的X射线的波长越短。 由于每一种元素都有其特定波长的线状X射线谱,可成为这种元素的标识,所以叫做标识X射线谱。 3.X射线微区分析 每一种元素都有其特定波长的标识X射线谱,可以利用这一特征对未知元素成份的物体进行成分分析。 用很细的电子射线束去轰击由未知元素组成的样品,采集样品中所含有的元素发出的标识X射线谱,根据谱特征,便可以确定样品的成分。由于电子射线束非常细,所以通常叫做电子探针,被轰击的区域也很微小,通常称为微区。所以这种分析样品的方法,称为X射线微区分析,或者电子探针微区分析。 例1. 标识X射线产生于: A.高速电子本身的韧致辐射 B.靶物质原子外层电子的受激辐射 C.靶物质原子内层电子的受激辐射 D.靶物质原子核的受激辐射 例2. 连续X射线产生于: A.高速电子本身的韧致辐射 B.靶物质原子外层电子的受激辐射 C.靶物质原子内层电子的受激辐射 D.靶物质原子核的受激辐射 例3. 标识X射线的波长决定于: A.管电流的强弱 B.管电压的高低 C.阳极靶的材料 D.阳极靶的面积 例4. 某X射线谱的最短波长为0.3nm,则X射线管的管电压为: A.1.242KV B.4.14KV C.124.2KV D.41.4KV 第四节 物质对X射线的衰减规律 当X射线进入物质以后,射线与物质相互作用,X射线能量转变为其它形式的能量,X射线通过一定厚度的物质以后,在原入射方向上,X射线强度减弱的现象叫做物质对X射线的吸收或X射线在物质中的衰减。 一、单色X射线的衰减规律 1.吸收规律 一束单色X射线的强度为I0,进入吸收物质的厚度为X处的强度为I μ 称为吸收物质的线性衰减系数。 负号表示X射线在吸收物质中的强度随厚度的增加而减弱。 I0 I X μ表示物质对X射线吸收本领的大小。μ越大,则物质的吸收本领越大,射线在物质中的强度减弱得越快。 2.质量衰减系数 μm 为了使衰减系数仅与吸收物质的种类有关,而与物质的状态无关,定义质量衰减系数代替线性衰减系数μ来描述物质对X射线的吸收本领 μm仅与物质的特征有关,而与物质的密度和状态无关。 μ不仅与吸收物质的种类有关,还与物质的密度和状态有关 。 对同一种吸收物质,物质的密度越大,单位体积内与X射线作用的原子越多,光子被吸收的概率就越大,μ越大, μ与物质的密度成正比。 物质的线性衰减系数μ与密度ρ的比值称为质量衰减系数。用μm表示 ,即 用μm表示的物质对X射线吸收的规律 等于单位面积中厚度为X的吸收层质量。 定义质量厚度Xm: I0 I X 3.半价层 物质对X射线强度吸收一半的厚度(或质量厚度),叫做该物质的半价层。用 或 表示。 用半价层表示物质对X射线的吸收规律为 当 时,X射线通过的厚度为 I0 I= I0/2 例:X射线被物质吸收时,要经过多少个半价层,强度才减少到原来的 解:因为 经过4个半价层后,强度
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