第五章 x射线衍射方法-107.pptVIP

绝对强度：由定标器所测得的计数率，单位为cps，即每秒多少个计数。 相对强度：以最强峰的强度作为100，然后与其他各个衍射峰进行对比计算。 衍射峰强度的测量方法有各种不同方法： A、峰高强度：以减去背景后的峰顶高度代表整个衍射峰的强度。 具体的做法：在两个峰脚之间作一条直线，从它以上的峰高作为衍射峰的强度。 优点：简便；缺点：所测得的峰高，受实验条件的影响相当大。 在一般的物相定性分析工作中，多采用峰高强度。 2）衍射强度的测量 B、积分强度：也称累积强度。它是以整个衍射峰在背景线以上部分的面积作为峰的强度。 优点：尽管峰的高度和形状可随实验条件的不同而变化，但峰的面积却比较稳定。因此，在诸如物相定量分析等要求强度尽可能精确的情况下，都采用积分强度。 6. 样品的制备 1、制备样品的方法 　与照相法的粉末试样制备一样，试样中晶体微粒的线性大小以在10-3mm数量级为宜，对无机非金属样品，可以将它们放在玛瑙研钵中研细至用手指搓摸无颗粒感时即可。金属或合金试样用锉刀挫成粉末。所需的样品量比照相法要多，大约在0.5-1克左右。 6. 样品的制备 特殊试样的制备方法： 当样品很少时，可将粉末和胶调匀徐在平玻片上制成。 对一些多晶质的固体样品，如果其中的晶粒足够细， 也可不必研磨成粉末。只要切磨出一个平整的面， 且样品的大小合适即可。如一些金属块、陶瓷片。 被测试样制备良好，才能获得正确良好的衍射信息。 对于粉末样品，通常要求其颗粒平均粒径控制在5μm左右， 亦即通过320目的筛子，而且在加工过程中，应防止由于外加物理 或化学因素而影响试样其原有的性质。 在样品制备过程中，应当注意： 1）在制样过程中，由于粉末样品需要制成平板状，因此需要避免颗粒发生定向排列，存在取向，从而影响实验结果。 2）在加工过程中，应防止由于外加物理或化学因素而影响试样其原有的性质。 实验室衍射仪常用的粉末样品形状为平板形。其支承粉末制品的支架有两种，即透过试样板和不透孔试样板，如图所示。 粉末物质制样示意图 当样品面高于样品板平面时，实测的θ角会偏大，计算所得的d值将偏小； 当样品面低于样品板平面时，实测的θ角会偏小， 计算所得的d值将偏大。 7.实验参数的选择 实际工作中最常用的X射线管是Cu靶，其次是Fe和Co。 Cu靶适用于除Co、Fe、Mn、Cr等元素为主的样品。 而以这些元素为主的样品用Fe或Co靶。 若试样是多种元素组成的，应首先考虑主要元素，兼顾次要元素 1）阳极靶的选择 　　阳极靶的选择原则是使阳极靶所产生的特征X射线不激 发试样元素的荧光X射线。一般原则是Z靶≤Z样 或Z靶》Z样。 切记当阳极靶的元素的原子序数大2-3时，激发荧光X射线的 现象最为严重。 选择阳极有时还要考虑试样分析的特殊要求。如当想获得较多的衍射线时，需要使用短波长的阳极靶，当测量晶面间距较大的晶面的衍射线时，可选择波长较长的阳极靶。　　从布拉格方程nλ=2dsinθ可知： λ2d 这些都应该由研究人员提出。  2）滤波片的选择一般情况下Z滤=Z靶-1因此，滤波片的选择一般可由实验人员来确定。 但研究人员应当了解是否采用了滤波片。 3）管压和管流的选择　　实验中所采用的管压也取决于所采用的阳极靶材。管压阳极靶元素K系激发电压的3-5倍。管流选择与X射线管的功率有关。　　　功率=电压×电流 　　管流= 功率/电压4）扫描速度的选择　　扫描速度指计数管在测角仪圆上均匀转动的角速度，以度／分表示。　　增大扫描速度，可节约测试时间，但同时将导致强度和分辨率的下降，并使衍射峰的位置向扫描方向偏移。因此，为了提高测量精确度，应尽可能用小的扫描速度。但过低的扫描速度耗时太多也是不实际的。　　衍射仪最大扫描速度为4°/分。 　　定性分析中一般用1-4°/分。 衍射仪法基本分析项目 物相定性、定量分析 点阵常数测定 应力测定 晶粒度测定 织构测定 衍射仪法与Debey法的对比 衍射仪法 Debye法 快0.3—1h 4—5h，手工化 灵敏，弱线可分辨 用肉眼 可重复，数据自动处理，结果自动检索 无法重复，人工处理结果 盲区小，2θ约为3° 盲区大， 2θ 10° 贵 便宜且简便 样品量大（0.5g以上） 样品极其微量（5～10mg） 常用于定量相结构分析 定性，晶体颗粒大小 第二节 单晶体衍射方法 单晶体X射线衍射分析的基本方法为劳埃（Laue）法与周转晶体法。 1. 劳厄法： Laue 连续x-ray投射到固定的单晶体试样上产生衍射的一种实验方法，x-ray具有较高的强度，可在较短的时间得到清晰的衍射花样（λ变） 垂直于入射线束的照相底片记录花样。 衍射花样由衍