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电子产品失效分析大全 继电器失效分析 1、样品描述????所送样品是3种继电器，其中NG样品一组15个，OK样品2组各15个，代表性外观照片见图1。委托单位要求分析继电器触点的元素成分、各部件浸出物的成分，确认是否含有有机硅。 图1 样品的代表性外观照片 2、分析方法 2.1 接触电阻 ????首先用毫欧计测试所有继电器A、B接点的接触电阻，A、B接点的位置见图2所示，检测结果表示NG样品B点的接触电阻均大于100 mΩ，而2种OK样品的A、B点的接触电阻均小于100 mΩ。 图2 样品外观照片 2.2 SEMEDS分析 ????对于NG品，根据所测接点电阻的结果，选取B接点接触电阻值高的2个继电器，对于2种OK品，每种任选2个继电器，在不污染触点及其周围的前提下，将样品进行拆分后，用SEMEDS分析拆分后样品的触点及周围异物的元素成分。触点位置标示如图3所示。 所检3种样品共6个继电器的触点中，NG品的触点及触点周围检出大量的含碳（C）、氧（O）、硅（Si）等元素的异物，而OK品的触点表面未检出异物。典型图片如图4、图5所示。 图3 触点位置标识（D指触点C反面） 图4 NG样品触点周围异物SEMEDS检测结果典型图片 图5 OK样品触点的SEMEDS检测结果典型图片 2.3 FT-IR分析 ????在不污染各部件的前提下，将2.2条款中剩下的继电器进行拆分，并将拆分后的部件分成3组，即A组（接点、弹片（可动端子、固定端子））、B组（铁片、铁芯、支架、卷轴）、C组（漆包线），分别将A、B、C组部件装入干净的瓶中，见图6所示，处理后用FT-IR分析萃取物的化学成分，确认其是否含有有机硅。 图6 拆分后样品的外观照片 结果表明，所检3种样品各部件的萃取物中，NG样品B组（铁片、铁芯、支架、卷轴）和C组（漆包线）检出有机硅，其他样品的部件未检出有机硅。典型图片见图7所示。 图7 NG品C组部件萃取物与聚二甲基硅氧烷的红外吸收光谱比较图 3、结论 1）所检3种继电器样品中，NG品B接点的接触电阻均大于100mΩ，不符合要求；而OK品A、B接点的接触电阻及NG品A接点的接触电阻均小于100mΩ，符合要求； 2）所检3种继电器（2个/种）的触点中，NG品的触点及触点周围检出大量的含碳（C）、氧（O）、硅（Si）等元素的异物，而OK品的触点表面未检出异物；3）所检3种继电器（13个/种）部件的萃取物中，NG品B组（铁片、铁芯、支架、卷轴）和C组（漆包线）检出有机硅，其他样品的部件未检出有机硅。 聚合物分析 1、样品描述 所送样品是2种黑色防紫外线扣，其外观照片见图1。委托单位要求确定2种样品的主成分是否为尼龙，如果是尼龙，再确定是尼龙6还是尼龙66。 图1 样品的外观照片 2、分析方法及结论 2.1用显微红外光谱仪（FT-IR）分析样品是否为尼龙，2种黑色防紫外线扣与尼龙的红外吸收光谱比较图如下，由此得出2种样品的主成分相同，均为尼龙（Nylon）。 图2 2种黑色防紫外线扣与尼龙的红外吸收光谱比较图 2.2用示差扫描量热仪（DSC）测试样品的熔点，确认样品是尼龙6还是尼龙66。结果显示所检“11” 黑色防紫外线扣的熔点为260.8℃，“13” 黑色防紫外线扣的熔点为261.2℃，即2种黑色防紫外线扣的熔点与尼龙66的相近。（备注：尼龙6的熔点为215～225℃，尼龙66的熔点为250～260℃） ? 漏电失效 （CAF） 一、样品描述： ????手机开机固定的键开始自动拨号。 图1 按键位置图 二、电性能测试 ????电性能测试发现失效品的总线R366与6、7、8号键间的阻值为0.01 MΩ，而正常品R366与6、7、8号键间的电阻值为4.68MΩ，即失效品R366与6、7、8号键有短路。且6、7、8处波形异常。 图2 失效样品波形测试图 图3 正常样品波形测试图 ? 图4 失效孔位置图 三、金相分析 图5 失效孔位置阳极导电丝图片 四、分析结论 ????间存在阳极导电丝导致漏电失效是引起产品自动拨号的原因。 焊点开裂（黑焊盘） 一、 样品描述： ????在测试过程中发现板上BGA器件存在焊接失效，用热风拆除BGA器件后，发现对应PCB焊盘存在不润湿现象。 二 、染色试验： ????焊点开裂主要发生在四个边角上，且开裂位置均为BGA器件焊球与PCB焊盘间。 开裂面积 开裂模式 ?Type A: 100%开裂 Type 1: 器件焊盘与焊球间开裂 ?Type B: 50%≤开裂100% Type 2: PCB焊盘与焊球间开裂 ?Type C: 开裂50% / ?Type D: 未开裂 / ?Type E: 无焊点 / 三、 金相及SEM分析 图2 开裂焊球SEM照片 ? 图3 开裂焊球