SPC统计过程控制讲解学习.ppt

SPC统计过程控制廖俊华;目录;计量数据的基本统计—数据分布;;常用统计量;常用统计量;;连续型数据─了解极差;;连续性数据─平滑(正态)分布;正态曲线和概率;正态分布的应用;正态分布的应用2;二项分布;二项分布的均值、方差与标准差;泊松分布;泊松分布;总结;第二章 持续改进和统计过程控制 ;WHAT IS SPC ？;Shewhart : 控制图之创始人;控制图在英国及日本历史;产品质量的统计观点;SPC的精神;SPCSQC;SPC用在那里？;控制图种类(依用途);控制用与分析用控制图的区别;控制图与APQP;控制图种类(依数据类型);优点: ＊根据控制图显示，可以预测将发生之不良状况，便于调查事故发生的原因。 ＊样本量少，反应灵敏。 ;优点: ＊ 只在生产完成后,才抽取样本,所需数据能以简单方法获得之. ＊ 对于工厂整个品质情况了解非常方便。;“n”=10~25;CASE STUDY;样本与总体;常规控制图的统计原理;正态分布特点;;正态分布概率;控制图的结构;控制图的作用;;抽样检验时的α 风险亦称为生产者冒险，β风险亦称为消费者冒险。;两种错误损失分析;控制界限;平均值移动;控制界限与错误损失;关于β风险的补充;抽样方法说明;如何确定子组;组内变异和组间差异;时间;;使用个别值时 其检出力较差;采用Xbar-R比X-Rm好;;如何确定抽样频率;如何确定抽样频率;初期过程研究——抽样频率;长期过程研究——抽样频率;过程波动原因的构成;普通原因和特殊原因;;普通原因、特殊原因示意图;普通原因与特殊原因举例;局部措施和系统措施;局部措施、系统措施示意图;控制界限和规格界限;;;过程控制和过程能力;过程控制和过程能力;第三章 控制图运用步骤 ;;;确立制造过程;;决定控制项目;产品 / 服务;;收集数据;;每个子组的平均值和极差的计算;选择控制图刻度;计算控制限;过程控制解释;作控制图的目的是为了使生产过程或工作过程处于“控制状态”. 控制状态即稳定状态, 指生产过程或工作过程仅受普通原因影响, 产品质量特性的分布基本上不随时间而变化的状态. 反之, 则为非控制状态或异常状态. 控制状态的标准可归纳为二条: 第一条, 控制图上点不超过控制界限; 第二条, 控制图上点的排列分布没有缺陷.;控制图的判读-准则1;控制图的判读-准则2;控制图的判读-准则3;控制图运用步骤 ;控制图的判读-准则5;控制图的判读-准则6;控制图的判读-准则7;控制图的判读-准则8;控制图的判读准则的选用;控制图不稳定的分析;控制图不稳定的分析;控制图不稳定的分析;Xbar-R练习;批次;手工计算如下：;=10.950;判图并分析;第四章 认识计量型数据的过程能力和过程性能 ;什么是过程能力;过程能力解释;制程精密度——反映制程的分布宽度;过程能力指数Cpk;过程能力指数Cp值的评价参考;;首先计算标准差σ的估计值，在n=5时：;过程能力指数- CPK的计算;练习：;过程性能指数 Ppk;举例：若金属加工的上、下规范限为： USL=10.22，LSL=10.08 如果已知总平均值 ，它可作为总体均值μ的估计。其长期标准差σ=0.0204。由此算得：;Cpk和Ppk的差异;;指数差异说明;练习：;两条线重合，这说明，除组内随机误差外，组间差差异不显著。 ;练习：;何时应用Cmk指数;Case study;Case study;机器能力指数、短期、长期能力指数;Cpm的说明;Cpm例;Cpm例-解答;练习;过程继续控制;控制界限的重新计算： 控制图经过使用一定时期后, 生产过程有了变化, 例如加工工艺改变、刀具改变、设备改变以及进行了某种技术改革和管理改革措施后, 应重新收集最近期间的数据, 以重新计算控制界限并作出新的控制图.建议的做法是： 发生工艺变更时，重新计算控制界限； 不发生工艺变更，一个月或一个季度评审一次以了解过程是否发生了漂移。;过程继续控制;;过程改进;第五章 其它几个计量型控制图;计量控制图的中心线和上、下控制限;A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：;B计算控制限;过程控制解释 (同X-R图解释);过程能力解释;子组选择;子组选择;子组选择;子组选择;子组选择;子组选择;单值控制在检查过程变化时不如X-R图敏感。。 如果过程的分布不是对称的，则在解释单值控制图时要非常小心。 单值控制图不能区分过程零件间重复性，最好能使用Xbar-R。 由于每一子组仅有一个单值，所以平均值和标准差会有较大的变性，直到子组数达到100个以上。;A收集数据 收集各组数据 计算单值间的移动极差。 Rm1=|X1-X2| Rm2=|X2-X3| Rm3=|X3-X4| …… Rm24=|X24-X25