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TOFD－Time of Flight Diffraction 技术介绍 主要内容 一、TOFD技术概述 二、TOFD技术验证与优缺点 三、国外TOFD标准 四、我国TOFD发展及标准法规 一、TOFD技术概述 1、TOFD定义 定义：Time Of Flight Diffraction 衍射时差法超声检测 TOFD 方法利用缺陷端点的衍射波信号探测和测量缺陷的尺寸 TOFD基本结构：一发一收双探头 宽角度纵波斜探头（通常） 2、TOFD检测显示 A扫描显示 TOFD图像 3、TOFD起源 技术起源 －1974，英国AEA NDT Harwell，Silk 首台设备 英国AEA A-EA Technology Sonomatic 首次应用 1985 核电设备 用途：缺陷尺寸测量 4、物理基础－衍射 4、物理基础－衍射 5、检测原理——埋藏缺陷 5、检测原理——扫查面开口缺陷 5、检测原理——底面开口缺陷 5、检测原理——层间缺陷 6、TOFD检测图像的形成（灰度图） 7、TOFD扫查方式与成像特点 （1）非平行扫查 7、TOFD扫查方式与成像特点 7、TOFD扫查方式与成像特点 二、TOFD技术的优缺点 2、TOFD图谱—表面开口裂纹 2、TOFD图谱— X形坡口根部未焊透