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Rietveld 精修与GSAS;主要内容;一、衍射强度理论;X射线衍射谱;衍射背底的产生原因;衍射角;衍射峰的分布;低角度衍射峰形不对称的原因;衍射峰宽度产生的原因;衍射强度;晶胞的衍射强度结构因子;粉末衍射峰的强度;角因子;角因子与衍射强度;吸收因子;Bragg-Brentano衍射几何;温度因子e-2M;温度因子e-2M;1、各个衍射峰的理论强度受到多重性因子、结构因子、吸收因子、温度因子、角因子的影响。 2、结构因子可以根据结构模型进行计算； 3、多重性因子根据空间群就可以计算； 4、BB几何吸收因子是一个定值??? 5、角因子、温度因子也可以进行理论计算； 6、考虑样品的择优取向。;衍射谱中各点的强度;衍射谱中各点的强度;Rietveld 精修原理;Structural model ;计算过程;S? is 第?相的比例因子；Lh 包括洛伦兹因子、极化因子及多重性因子.Fh 结构因子；Ah 吸收校正Ph 择优取向校正函数Ω 由于仪器几何宽化及样品物理宽化所导致和峰形函数bi 背底函数C 其它的特殊校正函数 (non linearity, efficiencies, special absorption corrections, extinction, etc) ;参数分类;进行Rietveld精修的前提 衍射数据： 一套步进的衍射数据：2?=10