TIA-EIA-568B(中文版)幻灯片资料.docVIP

TIA/EIA-568-B.2-1 PAGE 53 1 目录 1 绪论 2 目的和范围 3 标准参考 4 定义、缩写词 4.1 定义 4.2 缩写词 5 试验结构 5.1 成分试验结构 5.2 布线试验结构 6 成分 6.1认可电缆 6.1.1 水平电缆 6.1.2 主干电缆 6.1.3 混合电缆 6.2认可连接硬件 6.3 线芯 7 传输性能要求 7.1 插入损耗 7.1.1 电缆插入损耗 7.1.2 连接硬件插入损耗 7.1.3 布线插入损耗 7.2 近端串扰（NEXT）损耗 7.2.1 线对-线对的近端串扰（NEXT）损耗 7.2.1.1 电缆线对-线对的近端串扰（NEXT）损耗 7.2.1.2 连接硬件线对-线对的近端串扰（NEXT）损耗 7.2.1.3 工作现场、设备和接插软线的线对-线对的近端串扰（NEXT）损耗 7.2.1.4 布线的线对-线对近端串扰（NEXT）损耗 7.2.2 功率累计近端串扰（NEXT）损耗 7.2.2.1功率累计近端串扰（NEXT）损耗电缆 7.2.2.2功率累计近端串扰（NEXT）损耗布线 7.3 等电平远端串扰（ELFEXT）和远端串扰（FEXT）损耗 7.3.1线对-线对的等电平远端串扰（ELFEXT） 7.3.1.1 电缆线对-线对的等电平远端串扰（ELFEXT） 7.3.1.2连接硬件线对-线对的远端串扰（FEXT）损耗 7.3.1.3 布线的线对-线对的等电平远端串扰（ELFEXT）损耗 7.3.2功率累计等电平远端串扰（ELFEXT） 7.3.2.1电缆功率累计等电平远端串扰（ELFEXT） 7.3.2.2布线功率累计等电平远端串扰（ELFEXT） 7.4 回波损耗 7.4.1 水平电缆回波损耗 7.4.2 绞接导线电缆回波损耗 7.4.3 连接硬件回波损耗 7.4.4 工作区、设备和接插软线的回波损耗 7.4.5 布线回波损耗 7.5 传输延迟/延迟差异 7.5.1 电缆传输延迟 7.5.2 布线传输延迟 7.5.3 电缆传播延迟差异 7.5.1 布线传播延迟差异 7.6 对称 7.6.1 纵向变流损耗（LCL） 7.6.1.1电缆纵向变流损耗（LCL） 7.6.1.2 连接硬件纵向变流损耗（LCL） 7.6.2 纵向变流传输损耗 7.6.2.1 电缆纵向变流损耗（LCL） 7.6.2.2 连接硬件纵向变流损耗（LCL） 附录A 布线测量方法（标准） A.1 概述 A.2 频率范围 附录B 试验装置（标准） B.1等级III现场试验装置精度要求 B.1.1测试性能要求：基本链路6类测试仪表 B.1.2 测试性能要求 ，6类永久链路 B.1.2.1永久链路转接器模块式插头NEXT损耗 B.1.2.2永久链路转接器模块式插头FEXT损耗 B.1.3 测试性能要求：6类信道试验结构 B1.4 长度、传输延迟和延迟差异的精度要求。 B.2量化现场测试仪的程序 B2.1 概述 B.3 误差模式 B.4 精度 附录C 布线试验要求（标准） C.1 概述 C.2 试验设置和装置要求 附录D 电缆和连接硬件对称测量方法（信息） D.1 概述 D.2电缆对称测量 D.3 连接硬件对称测量 D.4 LCL校准和测量 D.4.1 LCL校准 D.4.2 LCL测量 附录E E.1 概述 E.2 试验设置和设备 E.2.1 试验不平衡变压器性能 E.2.2 阻抗匹配性接线头 E2.2.1 试验固定装置共模电阻匹配 E2.2.2 对称转换器接线头 E2.2.3 电阻接线头 E.3 模块式插座试验考虑 E.3.1 试验插头结构 E3.2 试验插头品质 E3.2.1 试验非嵌入式插头NEXT损耗 E3.2.2模块式试验插头试验 E3.2.3 对试验插头的另一种NEXT损耗测量方法 E3.2.4 非嵌入式和同轴接线端试验结果的相关性 E3.2.5 试验FEXT损耗 E3.2.6 试验插头差模和差模加共模确认 E3.2.7 试验插头延迟和端口扩展 E3.2.7.1 校正和参考平面定位 E3.2.7.2 网络分析仪设定 E3.2.7.3 测量 E4 NEXT损耗 E4.1 NEXT损耗试验 E.4.2NEXT损耗测量在试验室之间的重复性 E.5 FEXT 损耗 E5.1 FEXT损耗试验 E.5.2 FEXT损耗测量在试验室之间的重复性 E.6 回波损耗 E.6.1 回波损耗试验电线 E.6.2 回波损耗