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近 红 外 光 谱 分 析 仪 校 准 方
近 红 外 光 谱 分 析 仪 校 准 方 法 的 探 讨
蒋雪萍
( 杭州市质量技术监督检测院,杭州 310019)
摘要 通过对各种近红外光谱分析仪进行系统的测试和论证,初步建立了一套近红外光谱分析仪的校准方法。
该方法各项指标评价结果符合仪器的设计性能及实际测试工作要求。
关键词 近红外光谱分析仪 检测方法 探讨
和检测器的光量总和,通常在测试某波长的杂散光
时,将具有相应截止波长的材料置于样品光路中,则 在该截止波 长 上 所 测 得 的 透 光 率 即 为 仪 器 的 杂 散 光。
近红外光谱是由于分子振动的非谐振性使分子
振动从基态向高能级跃迁时产生的,记录的是含氢 基团 X—H( XC 、N、O) 振动的倍频和合频吸收。 不同基团( 如 甲 基、亚 甲 基、苯 环 等) 或 同 一 基 团 在 不同化学环境中的近红外吸收波长与强度都有明显 差别,通过多元线性回归、主成分分析、偏最小二乘 法等化学计量学的手段,建立物质光谱与待测成分 含量间的线性或非线性模型,从而实现用物质近红 外光谱信息对待测成分含量的快速计算。
由于近红外短波区域的吸光系数小,穿透性高, 可用透射模式直接分析固体样品; 近红外的光导纤 维易得,利用光纤可实现在线分析和遥测; 可同时完 成多个样品不同化学指标的检测,无繁琐的前处理 且不消耗样品并简单快速。可用于石油化工工业、 烟草与纺织行业、制药工业、面粉加工业、生物医学、 食品分析等。
目前国家和浙江省尚无有关近红外光谱分析仪 计量检定规程或校准规范,各技术机构计量校准无 统一的方法,校准技术良莠不齐,为此笔者认为有必 要讨论基于近红外光谱分析技术的光谱分析仪的校 准方法,以期解决其量值传递与溯源技术。
2
校准指标
( 1) 分辨率: 小于 5 nm;
( 2) 波长准确度: 在 ± 0. 2 nm 之内;
( 3) 波长重复性: 小于 0. 02 nm;
( 4) 吸光度噪音: 透过 率 为 100% 时,吸 光 度 噪
声小于 0. 000 2; 透过率为 10% 时,吸光度噪声小于
0. 002;
( 5) 吸光度重复性: 小于 0. 001;
( 6 ) 吸 光 度 线 性: 斜 率 和 偏 差 的 变 动 范 围 在
( 1. 0 ± 0. 05) 之内;
( 7) 杂散光: 小于 0. 5% 。
3 校准条件
3. 1
环境条件
温度: 15 ~ 30℃ ; 相对湿度: 小于 85% 。
配套设备
( 1) 低压汞灯;
( 2) 透 射 比 的 标 称 值 为 10% 、30% 、50% 、80%
3. 2
1
术语
( 1) 分 辨 率: 仪 器 区 分 两 个 相 邻 吸 收 峰 能 力 的
左右的中性滤光片( 不确定度小于 0. 2% ) ;
( 3) 亚甲基蓝标准溶液: 质量分数为 0. 005% 。
量度,通常由谱图带宽来表征,即单色器射出的单色
谱图带最大强度一半处的宽度。
( 2) 吸 光 度 噪 声: 在 零 吸 光 度 即 光 路 中 没 有 样 品的情况下仪器吸光度域的所有噪声。
( 3) 吸 光 度 重 复 性: 在 同 一 条 件 下 对 同 一 样 品 连续在同一台仪器上进行多次谱图测量结果之间的 差异。用整个光谱区间或某一特征峰的吸光度标准 偏差表示。
( 4) 吸 光 度 线 性: 对 不 同 透 过 率 的 吸 光 度 进 行
线性拟合后所得到直线的斜率和截距。
( 5) 杂散光: 要求的分析光除外,其它到达样品
4
校准方法与数据处理
校准前将汞灯与近红外光谱分析仪预热 30 min
以上或按设备使用说明书进行。
4. 1 分辨率
以低压汞灯作标准光源,在“光谱仪检测”项下
的“仪器控制”栏目选择外部光源打开,用光纤将低 压汞灯和仪器探测器连接起来。
在“光谱仪参数”选项中调整“积分时间”来 改
变特征峰值,使汞灯特征峰最大能量值超过 10 000。
收稿日期: 2010-11 -25
81蒋雪萍,等: 近红外光谱分析仪校准方法的探讨依次 选 定 低 压 汞 灯 的 7 个 特 征 峰 谱 线 696. 54、738. 40、76
81
蒋雪萍,等: 近红外光谱分析仪校准方法的探讨
依次 选 定 低 压 汞 灯 的 7 个 特 征 峰 谱 线 696. 54、
738. 40、763. 51、826. 45、912. 30、965. 78、1 014 nm
进行校正,从而使仪器由能量—像素坐标转换为能 量—波长坐标,此时横坐标显示的波长范围即为仪 器有效波长范围。
分别读取低压汞灯在 7 个特征峰谱线下的汞灯 波长光谱,各读取 10 次,计算上述 7 个特征峰处波 长
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