小角X射线散射.pptVIP

SAXS 准 直 系 统—针孔准直系统 使用真空准直配和照相法记录X射线强度，可得全方位的小角散射花样，适用于取向粒子，可避免准直误差，不适用于定量测定 四狭缝准直系统 计数管接收散射X射线强度。第一二狭缝宽度固定。第三狭缝宽度可调，可挡住前两个狭缝产生的寄生散射 Kratky U 准直系统 较高的角度分辨率，扩展了粒度的研究范围。可获得小角度的散射强度数据，使得外推的零角散射强度值精确，提高积分不变量的计算精度 锥形准直系统 多用于定量测定 Bruker SAXS仪（德国布鲁克） Rigaku SAXS仪（日本） Philips SAXS仪（荷兰） 同步辐射SAXS仪 小角X射线散射方法的特点 研究溶液中的微粒，最为简便 研究生物体微结构，研究活体和动态过程 某些高分子材料的散射强度很强 研究高聚物流态过程 确定粒子内部封闭内孔 获得试样内统计平均信息 可准确确定两相间比内表面和离子体积百分数等参数 制样方便 研究高分子结构的范围 通过Guinier散射测定溶液中高分子的形态和尺寸，测定胶体中胶粒的形状、粒度及粒度分布，研究结晶高分子中晶粒、共混高分子中微区（分散相、连续相），高分子中空洞和裂纹的形状、尺寸及其分布。 通过Zimm图测定粒子量与相互作用参数 通过Bragg衍射测定晶体空间结构分布 通过长周期测定研究高分子体系中晶片的取向、厚度与结晶百分数 研究分子运动和相变 小角散射 小角散射得到的结构信息有两类：一个是微颗粒信息，一个是长周期信息。与原子尺度和小分子晶体点阵相比较，可以认为这些是结构的“大尺度”信息。 因此小角散射方法主要有这两方面的应用： 一个是测量微颗粒形状、大小及其分布； 一个是测量样品长周期，并通过衍射强度分析，进行有关的结构分析 微颗粒信息 对于微颗粒情况，散射尺度为d的小角散射中央峰的角宽度可以由布喇格公式 2dsin? =? 得到，当2? 非常小时，2? = ?, sin? = sin(?/2) ? ?/2 因此可以得到 散射角?＝ ?/d 由此可以看出中央峰的角宽度随着散射体尺度d的减小而增加 长周期小角散射花样和对应的微细组织 高分子共混多相区，片晶和非晶堆积层可以形成长周期，即使是同种聚合物，在样品中存在不同物相的相间分布，也可以形成长周期，这些长周期是比晶体周期更大的微细组织，在理想情况它的点阵是与片层方向垂直的一维点阵。如果片层组织的取向是随机的，衍射环各处的强度是均匀的；如果有择优取向，衍射环上会出现强度集中区。 长周期小角散射花样和对应的微细组织 聚乙烯的 X 射线小角散射 加压冷拉 纤维束模型认为分子链在拉伸情况下聚集成束，称为微纤。微纤排列方向近似与纤维轴平行，沿纤维轴方向晶区(黑)和非晶区(白)差不多相间存在。当线性聚乙烯加压冷拉时，晶区或非晶区形成类似六角形堆积，非晶区靠近相邻微纤的结晶区；退火以后，原来六角形的堆积慢慢转变成次晶结构，形成次晶点阵。 * Fig.1 The SAXS curves of PCL-1 isothermally crystallized at 50 ℃ Fig.2 The relationship between long distance of PCL-1 and isothermal time 1 等温时间与长周期的关系 * Fig.1 Desmeared SAXS curves of PCL-1 isothermally crystallized at Tcs Fig.2 The relationship between Tc and Lp of samples 2 用Gibbs-Thomson关系式外推PCL平衡熔点 * Fig.4 The relationship between Tc and Lc of samples 通过wc可以求得PCL晶体的平均密度ρ， 可计算出体积结晶度（vc）， 根据vc和Lp可以分别计算 晶区尺寸（Lc）与非晶区尺寸（La）， 我们可以根据PCL晶体的一维广角衍射峰面积计算质量结晶度（wc）， 根据文献得知PCL的非晶区密度和晶区密度分别为： Fig.3 WAXS curves of crystal and amorphous of PCL （1）产生原理 利用电子 在作加速运动时能辐射电磁波的原理，辐射电磁波的光子能量在2479.7—0.0496 keV 范围的称为同步辐射X射线。 同步辐射 同步辐射是由以接近光速运动的电子在磁场中作曲线运动改变运动方向时所产生的电磁辐射,其本质与日常接触的可见光和X光一样，都是电磁辐射。 （2）同步辐射光源 20世纪60年代末出现。