三维形貌测量实验.docVIP

三维形貌测量 所谓三维，按大众理论来讲，是人为规定的互相交错的三个方向，用这个三维坐标，可以把整个世界任意一点的位置确定下来，这个理论在立体几何，立体测绘等有重要的应用，它可以帮助解决和简化我们在现实生活的多种问题。所谓的三维空间是指我们所处的空间,三维具有立体性，可以通俗的理解为前后，左右，上下。三维是由二维组成的，二维即只存在两个方向的交错，将一个二维和一个一维叠合在一起就得到了三维。 随着科学技术与社会生产生活的发展，在机器视觉，实物仿形，工业自动检测，地形绘制，生物医学等领域都有重要的意义和广阔的应用前景。因此，光学三维形貌检测技术受到广大学者的重视，正成为光学信息光学的前沿研究领域与方向之一，当前，也有很多方法可以进行光学三维形貌检测。 通过理解投影光栅相位法的基本原理;理解一种充分发挥计算机特长的条纹投影相位移处理技术。 实验原理 相位测量轮廓术的基本原理 投影光栅相位法是三维轮廓测量中的热点之一，其测量原理是光栅图样投射到被测物体表面，相位和振幅受到物面高度的调制使光栅像发生变形，通过解调可以得到包含高度信息的相位变化，最后根据三角法原理完成相位---高度的转换。根据相位检测方法的不同，主要有Moire轮廓术、Fourier变换轮廓术，相位测量轮廓术，本方法就是采用了相位测量轮廓术。 相位测量轮廓术采用正弦光栅投影相移技术。基本原理是利用条纹投影相移技术将投影到物体上的正弦光栅依次移动一定的相位，由采集到的移相变形条纹图计算得到包含物体高度信息的相位。 基于相位测量的光学三维测量技术本质上仍然是光学三角法，但与光学三角法的轮廓术有所不同，它不直接去寻找和判断由于物体高度变动后的像点，而是通过相位测量间接地实现，由于相位信息的参与，使得这类方法与单纯基于光学三角法有很大区别。 将规则光栅图像投射到被测物表面，从另一角度可以观察到由于受物体高度的影响而引起的条纹变形。这种变形可解释为相位和振幅均被调制的空间载波信号。采集变形条纹并对其进行解调，从中恢复出与被测物表面高度变化有关的相位信息，然后由相位与高度的关系确定出高度，这就是相位测量轮廓术的基本原理。 投影系统将一正弦分布的光场投影到被测物体表面,由于受到物面高度分布的调制, 条纹发生形变。由CCD 摄像机获取的变形条纹可表示为: (n=0, 1, … , N-1) (2-1) 其中n 表示第n 帧条纹图。、A(x,y)和B(x , y ) 分别为摄像机接收到的光强值、物面背景光强和条纹对比度。?n 附加的相移值, 如采用多步相移法采集变形条纹图,则每次相移量?n 。所求被测物面上的相位分布可表示为: (2-2) 用相位展开算法可得物面上的连续相位分布。已知为参考平面上的连续相位分布，由于物体引起的相位变化为 (2-3) 根据所选的系统模型和系统结构参数可推导出高度h和相位差的关系，最终得到物体的高度值。下面具体分析高度和相位差之间的关系： 图1系统中高度和相位的关系 图1系统中高度和相位的关系 实际照明系统中，采用远心光路和发散照明两种情况下，都可以通过对相位的测量而计算出被测物体的高度。只是前者的相位差与高度之间存在简单的线性关系，而在后一种情况下相位差与高度差之间的映射关系是非线性的。本实验的照明系统为远心光路。如图1所示，在参考平面上的投影正弦条纹是等周期分布的，其周期为p0，这时在参考平面上的相位分布?(x,y)是坐标x 的线性函数，记为： ???(x,y)=Kx=2?x?p0 (2-4) 以参考平面上O 点为原点，CCD 探测器上D c点对应参考平面上C 点， 其相位为?c(x,y)= (2?? p0 )OC, Dc 点与被测三维表面D 点在CCD 上的位置相同，同时其相位等于参考平面上A 点的相位。有?D =?A =(2?? p0 )OA, 显然 AC=( p0 ?2? )??CD (2-5) 则D 点相对于参考平面的高度h 为,当观察方向垂直于参考平面时，上式可表示为： =( p0 /tg?)(??CD/2??) (2-6) 根据式(2-6)就可以求出物体上各点的高度值。 相位的求取过程 1 求取截断相位 如前所述，求得物体加入测量场前后的展开相位差就可以获得物体的高度，因此相位的求取过程是整个测量过程中重要的一环。而条纹图中的相位信息可以通过解调的方法恢复出来，常用的方法主要有傅立叶变换法和多步相移法。用傅立叶变换或多步相移求相位时，由于反正切