材料测试第三章电子显微分析透射电镜.pptVIP

* 样品杆从横向插入物镜极靴之间，侧插方式的优点在于可从试样上方检测背反射电子和X射线等信号，并具有探测效率高以及可使试样大角度倾斜。 * 加速电压：指电子枪中阳极相对于灯丝的电压 * TEM研究的样品要求尺寸要小，对电子束“透明”。 有机高分子为不导电物质，熔点较低，制样时注意： （1）电子束照射下，温度会升高30－50℃（有机）或200－300℃（无机、金属），而镜体又高真空，必须使样品保持稳定。 （2）电子束穿透能力较弱，不能观察厚样品；100 kV时，厚度 100nm；高分辨率时，厚度在50nm左右 （3）试样通常置于有支持膜的载网上，支持膜要求很薄和均匀（20nm），有较高的强度，“透明”。（如火棉胶膜、聚乙烯醇缩甲醛膜、碳膜等） （4）透射电镜的试样载网很小，直径一般约3mm，所以试样的横向尺寸一般不应大于1mm。 * 高分子材料用超薄切片机可获得50nm左右的薄样品。如果要用透射电镜研究大块聚合物样品的内部结构，可采用此法制样。 （2）超薄切片法：用于观察样品的内部精细结构 样品预处理 树脂包埋 切片 支持膜上观察 切片厚度 50－60nm 包埋剂：邻苯二甲酸二丙烯酯、MMA/BMA均聚或共聚物、环氧树脂等 由于切片为等厚度，衬度很小，须经染色处理（包埋前） * 复型是