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材料现代测试研究方法 小角度散射综述 2015年10月 摘要 综述了小角x射线散射(SAXS)的发展历史及国内外的发展趋势。SAXS是在纳米尺度(1～100 nm)上研究物质结构的主要手段之一，它是在原光束附近小角度范围内电子对x射线的散射。通过对散射图形或散射曲线的观察和分析可解析散射体的形状、尺寸以及它们在空间和时间上的分布等信息。历史上SAXS发展比较缓慢，不仅是因为小角相机的装配操作麻烦，还因为受x射线强度的限制，曝光时间很长，对于一些弱散射体系如蛋白质溶液、高聚物等就难以测定。随着同步辐射装置的发展，以同步辐射为光源的小角散射实验站成了SAXS实验的主要基地。尽管SAXS理论和方法还不成熟，但其发展势头强劲。 关键词：小角x射线散射；同步辐射；研究进展 1．基础介绍 自发现X射线以来，已经发展了多种基于X射线的物质结构分析测试手段，它们被广泛地应用于生产及科研实践中。在纳米尺度(1～100 nm)上研究物质结构的主要手段之一就是小角X射线散射，或称X射线小角散射(small angle X—ray scattering，SAXS)，也有称小角x光散射。X射线是一种波长介于0．001～10 nm的电磁波。 当一束极细的X射线穿过存在着纳米尺寸的电子密度不均匀区的物质时，X射线将在原光束方向附近的很小角域(一般散射角为3°～5°)