crc校验算法在i-o扩展上的应用.pdf

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2019-09-28 发布于江苏
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www.PLC 2009年第 12 期 ·控制与检测 · 文章编号 : 100 1 - 2265 (2009) 12 - 0069 - 04 CRC校验算法在 I/O 扩展上的应用 1 1 2 林凯宏 ,游林儒 ,王立松 ( 1. 华南理工大学自动化科学与工程学院 ,广州　5 10640; 2. 吉阳自动化电子研发部 ,深圳　518055) 摘要 :为了克服锂电池卷绕机控制器 I/O 点占用资源多、扩展性不强等特点 ,采用 CPLD 处理 I/O 数据 , 并通过串行协议与主控制器 FPGA 交换 I/O 信息的方法实现 I/O 扩展。研究如何将循环冗余校验 ( ) CRC 用于保证串行 I/O 数据传输的可靠性 ,并用 V erilog实现了 CRC 校验算法 ,给出了仿真结果。实 0 际应用结果表明 ,该方法即实现了对大量 I/O 的处理 ,具有 I/O 扩展时的高度灵活性 ,又保证了数据传 5 0 0 输时的高可靠性 ,取得了理想的应用效果。 3 2 1 关键词 : CRC;循环冗余校验 ; I/O 扩展 ;卷绕机 2 0 5 1 中图分类号 : TP273　　　文献标识码 : A The A pplica tion of CRC A lgor it hm to I/O Exten sion 1 1 2 L IN Kaihong , YOU L ingru , W