物理学试验III‘X线回析と可视吸收’.pdf

物理学実験 III 「X 線回析と可視吸収」 守友 浩 自B607 4337 moriromo@sakura.cc.tsukuba.ac.jp 上岡隼人 自B205 4220 kamioka@sakura.cc.tsukuba.ac.jp 2009/6/2 改訂 本テーマの目標は、もっとも汎用的な構造解析法であるX 線粉末構造解析の知識と技術を習得 することと、分光を通じて d 電子系の電子状態の理解を深めること。X 線回折実験は 1F204 実験 室で行い、それ以外は自B203 セミナー室で行う。関数電卓を持参すること。 I X 線構造解析概論（２日） １．X 線の発生 ２．格子と基本構造 ３．原子および結晶からの回折 ４．粉末試料からの回折強度 II 粉末構造解析の実際（１日） １．Si の回折データーの解析 ２．リートベルト解析と解析結果の評価 III 粉末回折データーの測定と解析（実験１日、解析１日） １．KBr 等の粉末回折データーの測定 ２．Rietan-2000 による回折データーの解析 IV d 電子系の可視吸収（実験２日、解析１日） １．光学遷移と振動子強度 ２．金属イオンの可視吸収 ３．錯体結晶の可視吸収 X 線構造解析．について ・ 「X 線構造解析」 早稲田嘉夫、松原英一郎（内田老鶴圃） ・ 「X 線回折要論」 カリティ （アグネ承風社） ・ 「X 線結晶構造解析の手引き」 桜井敏夫 （裳華房） ・ 「物質の対象性と群論」 今野豊彦 共立出版 粉末構造解析の実際について ・ 「粉末構造解析の実際」 中井 泉、泉富士夫 （朝倉書店） d 電子系の可視吸収について ・ 「配位子場理論とその応用」 上村、菅野、田辺 （裳華房：物理学選書４） ・ 「金属錯体の現代物性化学」 山下正廣、小島憲道 （錯体化学会選書３） テキストや software のdownload に関しては、 http://www.sakura.cc.tsukuba.ac.jp/~moritomo/ 1 I. X 線構造解析概論 １． X 線の発生 X 線とは、波長が 0.5-2.0A の電磁波である。電磁波なので二つの偏光がある。また、光と同様に、“波 動性“と”粒子性“を兼ね備える。物質とのエネルギーのやり取りのない回折現象では、”波動性“が前 面に顔を出す。 連続X 線 充分大きな運動エネルギーを持った荷電粒子が急 速に加速されると X 線が発生する。Ｘ線管球では、 数 10keV の高い電圧が陰極 （フィラメント）と金属 陽極（ターゲット）の間にかけ、電子を陰極から引 き出しターゲットに高速で衝突させ、Ｘ線を発生し ている。このようにして発生するＸ線は、いろいろ波長を持って いるので連続Ｘ線、または、白色Ｘ線とよぶ。このＸ線の短波長 λ は、 min hc eV hν （１．１） max λ min である。V は加速電圧である。実用上は、 1.24 λmin [nm] （１．２） V[KeV ] が便利である。他方、Ｘ線の強度I は、 I ∝iZV m （１．３） であり、i は電流、Z はターゲットの原子番号、m は２程度の定数である。したがって、強い白色Ｘ線 を発生されるためには、W やAu などの重金属を使用する。