第四章多晶分析方法.pptVIP

* d大于等于波长的一半 任何一种粉末衍射技术都要求样品是十分细小的粉末颗粒，使试样在受光照的体积中有足够多数目的晶粒。因为只有这样，才能满足获得正确的粉末衍射图谱数据的条件：即试样受光照体积中晶粒的取向是完全机遇的。这样才能保证用照相法获得相片上的衍射环是连续的线条；或者，才能保证用衍射仪法获得的衍射强度值有很好的重现性。 * * Ｘ射线测角仪 测角仪圆中心是样品台H。样品台可以绕中心O轴转动。平板状粉末多晶样品安放在样品台H上，并保证试样被照射的表面与O轴线严格重合。Ｓ为Ｘ射线光源，当一束Ｘ射线照射到试样上时，只有与试样自由表面平行且满足布拉格方程的某种晶面，它的衍射线才能被探测器接收。测角仪圆周上安装有X射线辐射探测器，探测器亦可以绕O轴线转动。工作时，探测器与试样同时转动，但转动的角速度为2：1的比例关系。 1.概述 设计2:1的角速度比，目的是确保探测的衍射线与入射线始终保持2θ的关系，即入射线与衍射线以试样表面法线为对称轴，在两侧对称分布。 (2) 这样辐射探测器接收到的衍射是那些与试样表面平行且满足布喇格方程晶面产生的衍射。 (3) 同样的晶面若不平行与试样表面，尽管也产生衍射，但衍射线进不了探测器，不能被接收。 2.衍射几何 当试样和计数管连续转动时，衍射仪将自动绘出衍射强 度随2? 的变化曲线(称衍射图)，见图4-13 图4-13 铝粉的衍射图(CuK?照射) 3.试样 粉末试样压在样品框内，其粒度约为微米至几十微米，过粗时衍射强度不稳定，过细时使衍射线宽化。也可采用块状样品，照射面需磨平。 *制样中应注意的问题  ⑴样品粉末的粗细：样品的粗细对衍射峰的强度有很大的影响。要使样品晶粒的平均粒径在5μ左右，以保证有足够的晶粒参与衍射。  ⑵样品的择优取向：具有片状或柱状完全解理的样品物质（云母、黄色氧化铅、β- 铝等），其粉末一般都呈细片状或细条状，在制作样品过程中易于形成择优取向，从而引起各衍射峰之间的相对强度发生明显变化，有的甚至是成倍地变化。　　 4.光学布置 ⑴ X射线经线状焦点S发出，为了限制X射线的发散，在照射路径中加入S1梭拉光栏限制X射线在高度方向的发散，加入K发散狭缝限制X射线的照射宽度。经过二道光栏限制，入射X射线仅照射到试样区域，试样以外均被光栏遮挡 ⑵试样产生的衍射线也会发散，同样在试样到探测器的光路中也设置防散射狭缝光栏L 、梭拉光栏S2和接收狭缝光栏F ，这样限制后仅让聚焦照向探测器的衍射线进入探测器，其余杂散射线均被光栏遮挡。 探测与记录系统 1.探测器 X射线衍射仪可用的辐射探测器有正比计数器、盖革管、闪烁计数器、Si（Li）半导体探测器、位敏探测器等，其中常用的是正比计数器和闪烁计数器。 闪烁计数器 闪烁计数器是利用X射线作用在某些物质（如磷光晶体）上产生可见荧光，并通过光电倍增管来接收的辐射探测器，其结构如下图所示。当X射线照射到用铊（含量0.5%）活化的碘化钠（NaI）晶体后，产生蓝色可见荧光。蓝色可见荧光透过玻璃再照射到光敏阴极上产生光致电子。由于蓝色可见荧光很微弱，在光敏阴极上产生的电子数很少，只有6-7个。但是在光敏阴极后面设置了多个联极（可多达10个），每个联极递增100V正电压，光敏阴极发出的每个电子都可以在下一个联极产生同样多的电子增益，这样到最后联极出来的电子就可多达106-107个，从而产生足够高的电压脉冲。 Ｘ射线衍射仪的常规测量 1.衍射强度的测量 (1)连续扫描：计数器在测角仪上由2θ角接近0°的低角度向高角度方向连续进行扫描。与此同时，测角仪将2θ角度信号和计数器记录的强度信号传送给记录仪，记录仪将其记录下来形成如图的曲线。它包括了2θ角和衍射强度两种信息。比起照相法来说，这些信息较直观，且容易度量。连续扫描方式是最为常用的测量方式。其扫描的角度范围和扫描的速度可根据实际的需要而定。 (2)衍射强度公式 × 参数设置 1.阳极靶的选择 阳极靶的选择原则是使阳极靶所产生的特征X射线不激发试样元素的荧光X。一般原则是Z靶≤Z+1样 或Z靶》Z样。切记当阳极靶的元素的原子序数大于样品原子序数2～3时，激发荧光x射线的现象最为严重。实际工作中最常用的X射线管是Cu靶。其次是Fe和Co。Cu靶适用于除Co、Fe、Mn、Cr等元素为主的样品。而以这些元素为主的样品用Fe或Co靶。若试样是多种元素组成的，应首先考虑主要元素，兼顾次要元素。　 选择阳极靶有时还要考虑试样分析的特殊要求。如当想获得较多的衍射线时，需要使用短波长的阳极靶，当测量晶面间距较大的晶面的衍射线时，可选择波长较长的阳极靶。这些都应该由研究人员提出。 2dsinθ=λ 2.滤波片的选择一般情况下Z滤=Z靶-1一但阳极靶确定，滤波片