脉冲激光对CCD成像器件的破坏机理研究.pptVIP

脉冲激光对CCD成像器件的破坏机理研究 论文内容 CCD简介 项目研究的意义 本文所做的工作以及创新点 破坏现象 破坏机理分析 总结 CCD简介 CCD（Charge Coupled Device）即电荷耦合器件，可将景物通过空域逐点光电转换的方式以电荷包的形式储存，借助必要的光学系统、外围时序驱动和信号处理电路，完成采集信号的传输和输出。 CCD像素的截面构造 行间转移方式型CCD的像素主要由光电二极管和垂直CCD组成，前者负责光电转换与电荷储存，后者负责电荷的转移。遮光金属钨用来防止光进入垂直CCD，多晶硅为垂直CCD的四相驱动电极。为了提高入射光的利用率，目前商品化的CCD图像传感器，在像素上面放置了一层微镜头结构，将入射至摄影面的光集中到光电二极管。 行间转移方式工作图： 项目研究的意义 在光电对抗中，以CCD芯片为核心的光电成像系统，很容易受到激光的干扰和破坏以致不能正常工作，因此，开展激光对CCD的破坏机理研究对丰富激光与物质相互作用机理数据库和改善CCD的抗激光加固措施具有很重要的理论和实际意义。 自从20世纪70年代起，国外就开始对光电探测器的辐照效应进行研究，但是公开报道的关于CCD的相关研究主要集中于高能粒子辐照CCD方面，是基于搭载在航天器上的CCD成像器件工作在高能粒子密度大的外太空的实验研究。国