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多通道采集分 测频 测占空比 频率测试 占空比测量 利用捕获测试占空比 MSP430G2553定时器A具有捕获功能,可以设置相应的定时器控制寄存， 器TACCTL0,TACCTL1，TACCTL2,来设置定时器的工作模式有捕获和比较模式，当 选择为捕获模式时，有上升沿捕获和下降沿捕获，和上升沿下降沿都捕获捕获。先 设为上升沿捕获当捕获发生时清掉ＴＡＲ的值立即将捕获设为下降沿捕获 这样将捕获到高电平的时间，不清ＴＡＲ将捕获设为上升沿捕获当捕获发生 时就是一个周期的计数值。 步骤1.设置捕获控制寄存器捕获上升沿清TAR中的数 2. .设置捕获控制寄存器捕获下降沿清若捕到将TAR中的数读出来Ａ１ 3 .设置捕获控制寄存器捕获上升沿降沿清若捕到将TAR中的数读出来Ａ２ 　 4.计算显示占空比为A1/A2 例如。TACCTL1 = CM_1+CCIS_0+CAP+SCS;//1上升，2下降 3下降上升捕获/同步捕获CCIS_0= TACCTL1 =~CCIFG; //清CCR2 的标志位0x01 while(!(CCIFGTACCTL1)); //查CCR1 标志位 TACTL |= MC_2+TACLR;//连续计算模式清TAR的值 TACCTL1 =~CCIFG; //清CCR2 的标志位 TACCTL1 = CM_2+CCIS_0+CAP+SCS; while(!(CCIFGTACCTL1)); //查CCR1 标志位 first_value=TACCR1; //第二个捕获值存入second_value TACCTL1 =~CCIFG; //清CCR2 的标志位 TACCTL1 = CM_1+CCIS_0+CAP+SCS; while(!(CCIFGTACCTL1)); //查CCR2 标志位 second_value=TACCR1; //第一个捕获值存入first_value TACCTL1 =~CCIFG; //清CCR2 的标志位 TACTL = TASSEL_2+MC_0+TACLR; 占空比= first_value/second_value*100.0; 峰值测量 相位测量 * * 一.实现方法 利用I/O中断测频率 MSP430单片机的I/O口都具有中断能力. 可以利用I/O口得中断输入口来测试被测信号的频率。 例如.设置I/O为上升沿中断，在I/O中断程序中响应程序对被测信号进行计算没进来一次f++， 同时开定时器对计算时间进行设置，如果定时器 为1S那么此时的f值就是要测的频率 1.初始化Ｉ/Ｏ口 ２.初始化定时时器设定时间 ３.计数时间到了计算显示标志位置１ ４.算出频率并且显示 初始化I/O中断P1.3 P1DIR=0xf7;//P1.３设置为中断测评输入端口 P1OUT=0x08; P1REN=0x08;//上拉电阻 P1IE|=0x08;//开P1.0口 P1IES|=BIT3;//触发方式选择 P1IFG=0x00; P1.3口得中断服务程序 #pragma vector=PORT1_VECTOR __interrupt void Port (void) { if(P1IFGBIT3)//0x03 { n++; if(n==50000)//目地为了扩展，让频率计达到65536hz以上的测试。 { n=0; a++; } P1IFG=~BIT3; } } 定时器初始化 //=========定时器的初始化===========// void init() { n=0; TACTL=TASSEL_2+MC_1;//SMCLK upmode CCTL0=CCIE; // CCR0=1581;//100us CCR0=1583; } //=========100us定时中断服务函数=======// #pragma vector=TIMER0_A0_VECTOR __interrupt void timer(void) { irtime++; //P1OUT^=0x41; if(irtime==10005)//1s { irtime=0; // P1OUT^=0x01; flag=1;//1s计数完成 } } 最终Ｆ＝a*50000+n; * * *