第十一讲 透射电子显微镜-医学演示课件.pptVIP

减薄样品 复型技术只能对样品表面形貌进行复制，不能揭示晶体内部组织结构信息，受复型材料本身尺寸的限制，电镜的高分辨率本领不能得到充分发挥，萃取复型虽然能对萃取物相作结构分析，但对基体组织仍是表面形貌的复制。在这种情况下，样品减薄技术具有许多特点，特别是对金属薄膜样品。 * 减薄的特点 可以最有效地发挥电镜的高分辨率本领； 能够观察金属及其合金的内部结构和晶体缺陷，并能对同一微区进行衍衬成像及电子衍射研究，把形貌信息与结构信息联系起来； 能够进行动态观察，研究在变温情况下相变的成核长大过程，以及位错等晶体缺陷在引力下的运动与交互作用。 * 薄膜的制备 要求对电子束透明，样品制备过程不影响其原有的结构，样品不能太厚，应该尽量减少非弹性散射所造成的影响。如色差，衬度的降低等。 用于透射电镜观察试样的要求是：它的上下底面应该大致平行，厚度应在50-200nm，表面清洁。由大块试样制备薄膜一般需要经历以下三个步骤： * 薄膜的制备 一般可利用砂轮片，金属丝或用电火花切割方法切取厚度0.20~0.30mm； 用金相砂纸研磨，把薄块减薄到0.1mm-0.05mm左右的薄片。这种方法可能会严重发热或形成应力使样品受到影响，为此可采用化学抛光法。它的特点是可用于陶瓷等不导电的样品。 用离子束减薄或电解抛光的方法进行最终减薄，在孔洞边缘获得厚度小于200nm的薄膜。 * 离子减薄 * 电子衍射