SPC统计制程管制培训课程.ppt

DNV - June 1999 P管制图 P图是用来测量一批检验项目中不合格品项目的百分数。 收集数据:选择子组的容量、频率和数量 子组容量：子组容量足够大（最好能恒定），并包括几个不 合格品。 分组频率：根据实际情况，兼大容量和信息反馈快的要求。 子组数量：收集的时间足够长，使得可以找到所有可能影响 过程的变差源。一般为25组。 计数型数据控制图 DNV - June 1999 计算每个子组内的不良率（P） P=np /n n为每组检验的产品的数量； np为每组发现的不良品的数量。 选择控制图的坐标刻度 一般不良品率为纵坐标，子组别（小时/天）作为横坐标,纵坐标的刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1.5到2倍。 DNV - June 1999 将不良率描绘在控制图上 a 描点，连成线来发现异常图形和趋势。 b 在控制图的“备注”部分记录过程的变化和可能影响 过程的异常情况。 计算过程平均不良率（P） P=（n1p1+n2p2+…+nkpk）/ (n1+n2+…+nk) 式中：n1p1；nkpk 分别为每个子组内的不合格的数目 n1；nk为每个子组的检验总数 DNV - June 1999 计算上下控制限（USL；LSL） USLp = P + 3 P ( 1– P ) / n LSLp = P – 3 P ( 1– P ) / n P 为平均不良率；n 为恒定的样本容量 注： 1、从上述公式看出，凡是各组容量不一样，控制限随之 变化。 2、在实际运用中，当各组容量不超过其平均容量25%时， DNV - June 1999 可用平均样本容量 n 代替 n 来计算控制限USL；LSL。 方法如下： A、确定可能超出其平均值 ± 25%的样本容量范围。 B、分别找出样本容量超出该范围的所有子组和没有超出该范围 的子组。 C、按上式分别计算样本容量为 n 和 n 时的点的控制限. UCL,LCL = P ± 3 P ( 1 – P ) / n = P ± 3 p ( 1– p) / n 画线并标注 过程平均（P）为水平实线，控制限（USL；LSL）为虚线。 (初始研究时，这些被认为是试验控制限。） DNV - June 1999 DNV - June 1999 DNV - June 1999 a 一个受控的管制图中，落在均值两侧的点的数量将几乎相等。 b 一般情况，各点与均值的距离：大约2/3的描点应落在控制限 的中间1/3的区域内，大约1/3的点落在其外的2/3的区域。 分析数据点，找出不稳定的证据非随机图形例子： 明显的趋势；周期性；子组内数据间有规律的关系等 控制用控制图分析 DNV - June 1999 C: 如果显著多余2/3以上的描点落在离均值很近之 处 （对于25子组，如果超过90%的点落在控制限的1/3 区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查： 1、控制限或描点计算错 2、过程或取样方法被分层，每个子组包含了从两个或多 个不同平均性能的过程的测量值（如：两条平行的 生产线的混合的输出）。 3、数据已经过编辑（明显偏离均值的值已被调换或删除） DNV - June 1999 d 如果显著少余2/3以上的描点落在离均值很近之处 （对于25子组，如果只有40%的点落在控制限的1/3