材料分析测试技术-第3章.pdfVIP

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《材料分析测试技术》第一篇 X射线衍射分析 第三章 X射线衍射强度  晶体对X射线的散射  结构因子  多晶体衍射强度  多晶衍射强度计算 1 《材料分析测试技术》 3.1 引言 在进行晶体结构分 析时,主要获得 两类信息 第一类是衍射方向, 第二类是衍射强度,物质内部 即θ角。衍射方向反映 原子的类型及在晶胞中的位置 了晶胞的大小及形状 不同反映在衍射结果上,表现 因素,可以用布拉格 在衍射线的强度大小。而布拉 2 方程来描述 格方程无法描述强度问题 《材料分析测试技术》 原子种类及其在晶体中的位置不同同反映到衍射结 果上,表现为反射线的有无或强度的大小 x射线衍射强度, 在衍射仪上反映的 是衍射峰的高低 3 《材料分析测试技术》 原子位置变化引起衍射强度变化举例 (a)相邻晶面波程 差为AB+BC=λ (b)相邻晶面波程 差为DE+EF=λ/2 d 001 (001 ) 体心斜方晶体多了一个(002)面,其反射波与上下两个(001)原子 4 面的波程差为λ/2,强度互相抵消,无(001)面衍射。--系统消光 《材料分析测试技术》 引入结构因子概念  可见,晶胞中原子的位置与衍射强度之间关 系非常密切,反映这个关系的基本参数就是 结构因子。结构因子能够反映在满足布拉格 定律的条件下,一个晶胞衍射的强度。 5 《材料分析测试技术》 3.2 结构因子 3.2.0 定义 结构因子——定量表征原子排布以及原子种类对衍射强 度影响规律的参数,用单胞内所以原子的散射波在 衍射方向上的合成振幅来表示。 下面我们将从一个电子、一个原子、一个晶胞、一个6 晶体、粉末多晶循序渐进地介绍它们对X射线的散 射,讨论散射波的合成振幅与强度 6 《材料分析测试技术》 3.2.1一个电子对X射线的散射 1. 电子对X射线散射的本质 X射线为电磁波,其电场会对任一荷电质点施加一个力。 X射线为振动电场,与电子作用时将迫使电子绕平衡位置 振动。 电子振动时,电子在其运动期间连续地加速和减速,振动 电子发出电磁波。实质就是电子在入射光束作用下所辐 射的散射光束,该散射束频率和波长与入射束相同。 7 《材料分析测试技术》 2. 散射束的强度 (汤姆孙公式)  振动的电子向四面八 方发射电子波(即X射 线) 。在空间任意一点 2 2

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