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《材料分析测试技术》第一篇 X射线衍射分析
第三章 X射线衍射强度
晶体对X射线的散射
结构因子
多晶体衍射强度
多晶衍射强度计算
1
《材料分析测试技术》
3.1 引言
在进行晶体结构分
析时,主要获得
两类信息
第一类是衍射方向, 第二类是衍射强度,物质内部
即θ角。衍射方向反映 原子的类型及在晶胞中的位置
了晶胞的大小及形状 不同反映在衍射结果上,表现
因素,可以用布拉格 在衍射线的强度大小。而布拉
2 方程来描述 格方程无法描述强度问题
《材料分析测试技术》
原子种类及其在晶体中的位置不同同反映到衍射结
果上,表现为反射线的有无或强度的大小
x射线衍射强度,
在衍射仪上反映的
是衍射峰的高低
3
《材料分析测试技术》
原子位置变化引起衍射强度变化举例
(a)相邻晶面波程
差为AB+BC=λ
(b)相邻晶面波程
差为DE+EF=λ/2
d
001
(001 )
体心斜方晶体多了一个(002)面,其反射波与上下两个(001)原子
4 面的波程差为λ/2,强度互相抵消,无(001)面衍射。--系统消光
《材料分析测试技术》
引入结构因子概念
可见,晶胞中原子的位置与衍射强度之间关
系非常密切,反映这个关系的基本参数就是
结构因子。结构因子能够反映在满足布拉格
定律的条件下,一个晶胞衍射的强度。
5
《材料分析测试技术》
3.2 结构因子
3.2.0 定义
结构因子——定量表征原子排布以及原子种类对衍射强
度影响规律的参数,用单胞内所以原子的散射波在
衍射方向上的合成振幅来表示。
下面我们将从一个电子、一个原子、一个晶胞、一个6
晶体、粉末多晶循序渐进地介绍它们对X射线的散
射,讨论散射波的合成振幅与强度
6
《材料分析测试技术》
3.2.1一个电子对X射线的散射
1. 电子对X射线散射的本质
X射线为电磁波,其电场会对任一荷电质点施加一个力。
X射线为振动电场,与电子作用时将迫使电子绕平衡位置
振动。
电子振动时,电子在其运动期间连续地加速和减速,振动
电子发出电磁波。实质就是电子在入射光束作用下所辐
射的散射光束,该散射束频率和波长与入射束相同。
7
《材料分析测试技术》
2. 散射束的强度
(汤姆孙公式)
振动的电子向四面八
方发射电子波(即X射
线) 。在空间任意一点 2 2
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