x荧光光谱测试技术在地质学中应用的进展.pptVIP

x荧光光谱测试技术在地质学中应用的进展 主要内容 X 荧光仪国外研究现状 X 荧光仪国内研究现状 国内X荧光仪在地质学上的应用现状 X 荧光仪在地质上的应用实例 X 荧光仪国外研究现状  在国外 X 荧光光谱法的发展大致经历了以下：三个阶段： 第一阶段:从X射线的发现到布拉格(Braag, W.L.)定律的建立(1895-1913年),1912 年劳厄(Laue,M.V-on )等用晶体证实了X射线具有衍射现象，从而证实了X射线具有波动性质。1913年布拉格父子在劳厄等关于X射线干涉实验的基础上，完成了X射线干涉图象定量解释的理论研究，建立了著名的布拉格定律，随即研发了X射线分光计，并首先证实了巴克拉所提出的X射线的原级辐射和标识辐射。 第二阶段：莫塞莱(Moseley, H.G.J.)定律的建立和原级 X 荧光分析的发展(1913—1940 年左右)。 1923 年赫维西(Hevesy , G)等提出应用元素的特征X射线光谱对元素进行定量分析的方法，而后格洛克尔( Glc -ker,R.)等也提出了应用元素的特征X射线光谱对元素进行定量分析的方法。在 1924 年，Soller 制成第一台采用平行片准直器的X射线荧光谱仪；在 1928 年，Geiger, H.和 Muller 研制成一种可靠性很好的充气型探测器。但