在加速器的注入.doc

第二章 加速器第三章 储存环 BEPCII初步设计报告北京正负电子对撞机重大改造工程初步设计 PAGE 20 PAGE 19 2.103.10 束流测量系统 前言 束流测量系统由各种束流探头、信号处理电子学、计算机及控制网络组成，在加速器的注入、调整、运行以及机器研究过程中起着非常重要的作用，是BEPCII的重要组成部分之一。束流测量系统必须提供精确、充足的束流和加速器的参数信息，使得加速器物理学家和运行操作人员能够改善注入效率、优化LATTICE参数、监控束流行为，从而提高对撞亮度或同步辐射亮度。 BEPCII束流测量系统的设计应遵循以下几条基本原则： 满足长期稳定运行需求 束流和机器参数的测量要有合适的测量精度和速度 足够的测量动态范围，可以涵盖所有的能量和流强 满足机器研究时的特殊需要，满足初调时弱信号处理的要求 尽可能地采用商业化的产品以提高设备的可靠性并利于以后的维护 充分利用世界上最先进的加速器束流测量技术，像KEKB、PEP-II、Spear3所采用的束流测量技术，加强同他们的合作和交流，是束流测量系统设计所采取的技术路线。 BEPCII为双环结构，采用大流强、多束团，运行在对撞模式和同步辐射模式，因此对束流测量系统提出了更高的要求，要求能够快速精确地监测束流状态，能够精确测量和控制每个束团的流强、闭轨，要求抑制束流不稳定性等，特别是对撞区束流轨道的测量尤为重要，以便准确知道束团在对撞点的位置和夹角。由于这些特点和要求，BEPCII束流测量系统中许多子系统将不同于BEPC所采用的束流测量手段，像IP束流位置反馈系统、多束团流强测量和Bucket选择系统以及束流Bunch-by-Bunch反馈系统等。但是BEPC所使用的常规束流测量手段有些仍将用于BEPCII，例如测量束流平均流强用的直流束流变压器 (DCCT)，监视束流注入位置和束流截面的荧光靶 (PR)，TUNE测量用条型电极，同步光信号处理及电子学系统等。 技术指标及探测器布局 表2.103.10-1描述了储存环束测系统主要的指标。表2.103.10-2说明储存环束测系统探头种类、数量及期望的位置、占用纵向空间等。图2.103.10-1表示了储存环束测探测器的分布（未包括BPM）。 表2.103.10-1 储存环束流测量系统技术指标 子系统名称 指 标 备 注 束流位置(（BPM）） 单次通过 测量区域：±40 mm×±20 mm(H×V) 精度：1 mm 分辨率：0.1 mm 探头为4钮扣电极型 前室结构型真空管道BPM探头在批量加工时通过严格控制加工公差来保证位置测量精度的要求 常规 测量区域：±20 mm×±10 mm(H×V) 精度：0.1 mm 分辨率：0.01 mm offset定位： 0.1 mm 闭轨测量时间： 4 s 工作点测量系统（Tune） 分辨率：0.0001 准确度：0.0005 拾取电极为钮扣电极型 拾取电极在?函数大处 平均流强测量系统(DCCT) 流强测量范围：0.1~1.5 A 线性度：0.1 % 零漂： 10 ?A 需要电磁屏蔽 单束团流强测量系统 (BCM) 测量范围： 50 mA 测量相对精度：1/255 束团最小间隔：2 ns 实时获取环中每个 bunch的流强数据 自动地选择注入 BUCKET号 束流损失测量系统 动态范围：120 dB 最大计数率：10 MHz 色散函数 (?) 和??? 函数大处 束流反馈系统 横向 阻尼时间：2 ms 最大位置偏差：1 mm 带宽为250 MHz 三套拾取电极 /每环 其中横向2个拾取电极; 纵向1个拾取电极且为 小孔径 纵向 阻尼时间：5 ms 最大能量偏差：0.1% 同步光探头 束团截面测量 分辨率：（10%）?y 同步光探头位于水平 色散函数很小、?y较大处 束团长度测量 分辨率：2 ps（使用条纹相机） 表2.103.10-2 储存环束测系统探头种类、数量、位置、所需纵向空间 子系统 数量 所需纵向空间（mm） 位置 备注 平均流强（DCCT） 2 350带法兰 e+、e?环各一个 远离RF Cavity 同步光 2 500带法兰 现BEPC位置 BPM 前室结构型 96 120 Q铁、S铁之间 First turn BPM每环对撞区2个、弧区8个、注入区4个、高频区2个 直线节跑道型 32 120 Q铁附近 IP８电极 2 30 IP附近 IR叉管型 4 细孔径型 2 150带法兰 束流水平方向清晰区小于32mm处 横向反馈kicker 4 500带法兰 外环注入区或 内环注入区 放在?函数大，色散小处 纵向反馈kicker 2 500带法兰 高频区 图2.103.10-1 束测探头在储存环位置示意图  束流位置测量系统（