材料分析方法-1-5.pptxVIP

第五节 x射线物相分析;第五节 x射线物相分析;一 定性相分析;（一）基本原理;（一）基本原理;（一）基本原理;（二）定性相分析的判据;（二）定性相分析的判据;（三）P D F 卡 片 ;（三） P D F 卡 片;（三） P D F 卡 片;（三） P D F 卡 片;（三） P D F 卡 片;（三） P D F 卡 片;三、P D F 卡 片;（三） P D F 卡 片;（三） P D F 卡 片;（三） P D F 卡 片;（三） P D F 卡 片;（三） P D F 卡 片;（三） P D F 卡 片;（四）定性分析方法;（五）定性分析中的注意事项;（五）定性分析中的注意事项;（五）定性分析中的注意事??;（五）定性分析中的注意事项;（五）定性分析中的注意事项;（六）多项物质分析实例 ;（六）多项物质分析实例 ;（六）多项物质分析实例 ;（六）多项物质分析实例 ;二 物相定量分析 ;二 物相定量分析;（一）概述;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;（二）基本原理;三 、点阵常数的精确测定;（一）点阵常数相对误差与衍射角的关系;（一）德拜法中的系统误差;（一）德拜法中的系统误差;（一）德拜法中的系统误差;（一）德拜法中的系统误差;（二）德拜法精确测定点阵常数的实验技术;（二）德拜法精确测定点阵常数的实验技术;（三）校正误差的数据处理方法;一、残余应力的概念 ⑴第一类内应力（或宏观应力） 概念：指在整个工件或较大区域（即宏观区域）内存在的残余应力。 特点：能够造成材料的宏观尺寸变化，使晶面间距变化，因此会使得衍射线发生位移。 可以通过测定衍射线的位移，测定宏观应力。 ——宏观应力测定的思想 ;⑵第二类内应力 概念：指在一个或几个晶粒范围内存在的残余应力。常称为微观内应力。 特点：这种内应力数值往往很大，能使晶格发生强烈的扭曲或弯曲等变化，从而使不同晶粒内的同一组晶面间距发生不规则的变化，这样就会导致衍射线条变宽。 ——微观应力测定的基本思想;⑶第三类内应力 概念：指在若干个原子范围内存在的应力，是超微观范围的一种内应力，俗称点阵畸变。 特点：这类应力主要是降低衍射线的强度。 ——第三类应力测定的思想 工程上，也把第二类、第三类内应力合称为微观应力。 本章主要讨论宏观应力的测定 。;应力对X射线衍射线的影响;二、X射线测定应力的特点 优点： ①无损检测，即无需破坏零件； ②X射线测定的应变是弹性应变，而其它方法测得的是弹性应变和塑性应变的总和ε弹＋ε塑，无法分辩； ③测定范围可以小至1mm2，即可以测定小区域应变，而其它方法只能测量大范围内的平均值；; ④可以测量纯粹的宏观应力，也可以对微观应力、超微观应力分别测得； ⑤可以测定表层的应力，10～35μm内。 适于镀层、涂层、氧化层及化学热处理层等应力测定。 缺点： ①测量误差较大，在衍射峰尖锐时可达2Kg/mm2以内，若衍射峰低且宽时，误差会增大好几倍。 ②X射线穿透能力有限，只能测量表面应力。 ; 应力测量的基本原理 （单轴应力测定原理）;