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曹明琛、胡亚男
2015年1月5日
Operation and Application of Impedance Analyzer
无损检测与评价研究所-现代仪器与仿真技术交流论坛
阻抗分析仪的操作与应用
目录
阻抗分析仪简介
阻抗参数测量
阻抗匹配
阻抗分析仪扫频
测量数据存储
阻抗分析仪简介
厂家:Agilent Technologies(美国安捷伦科技公司)
名称:Agilent 4294A精密阻抗分析仪 (4294A Pricision Impedance Analyzer)
范围:40Hz-110MHz
功能:对元件和电路进行高效率阻抗测量和分析。实现高性能网络分析仪、频谱分析仪和阻抗分析仪的功能。对各种电子器件以及电子材料和非电子材料的精密阻抗进行测量。
40Hz-110MHz
Agilent 4294A
精密阻抗分析仪
阻抗分析仪简介
阻抗分析仪简介
阻抗分析仪简介|技术指标
电子器件的测量
无源器件:测量两个端口或引线的器件的阻抗,包括电容器、电感器、铁氧体磁珠、电阻器、变压器、多芯片模块或阵列/网络元器件。
半导体元件:
变容二极管的 C-V 特性分析。
对二极管、晶体管或 IC 封装端子/引线的寄生参数进行分析。
放大器输入/输出阻抗测量。
其他元器件:测量印刷电路板、继电器、开关、电缆和电池等元件的阻抗。
材料的测量
电介质材料:测量塑料、陶瓷、印刷电路板及其它电介质材料的介电常数和损耗角正切值。
磁性材料:测量铁氧体、非晶硅和其它磁性材料的导磁率和损耗角正切值。
半导体材料:半导体材料的电容率、导电性和 C-V 特性。
阻抗分析仪简介|典型应用
阻抗分析仪简介|前面板
[Meas]-激活软键进行测试参数选择
[Format]-可调整曲线的显示方式(线性/对数)
[Display]-可进入选择电路的等效模型等
[Scale Ref]-可调整曲线的刻度
[Bw/Avg]-可调整带宽和平均
[Cal]-进行校准相关操作
可选择激活当前操作曲线(曲线A/B)
[Sweep]-对测试信号进行配置
[Source]-调整信号电平,DC偏置等
[Trigger]-触发设置
[Start]-设置起始扫描参数
[Stop]-设置终止扫描参数
[Center]-设置中心频率
[Span]-设置频率范围
①
②
③
阻抗分析仪简介|前面板
④
⑤
⑥
旋钮-可连续调节数值
[↓] 和[↑]-可步进调节数值
[Entry Off]-关闭输入
[Back Space]-删除键
[0] - [9] [.] [-]-可设置具体数值及命名文件名
[G/n][M/μ][k/m][x1]-设置变量单位
[Marker]-激活标记读数功能
[Marker→]-寻找特定读数下的相关参数
[Search]-寻找峰值、选定值等
[Utility]-激活其他标记功能
[System]-对仪器进行全局控制
[Local]-在被远程操控和本地工作状态间切换
[Preset]-将仪器恢复至出厂状态
[Copy]-将屏幕信息打印输出
[Save]-对数据、图标等信息进行存储.
[Recall]-载入目标文件的参数
LCD 屏右侧软键配合以上①—⑥项进行使用
目录
阻抗分析仪简介
阻抗参数测量
阻抗匹配
阻抗分析仪扫频
测量数据存储
阻抗参数测量|校准
一. 开路校准
a. 按 [Cal] 键进入校准菜单
b. 按 FIXTURE COMPEN 键
c. 按 OPEN 键
屏幕短暂显示信息“WAIT--MEASURING STANDARD” 后,右侧软键旁的标签内容由OPEN on OFF 变为 OPEN ON off 。
二. 短路校准
a.首先取下夹具上的一个黄色片状金属“short bar”,按照图示插入LOW与HIGH的缝间,将螺丝扭紧。
b. 按 SHORT 键
屏幕短暂显示信息“WAIT--MEASURING STANDARD” 后,右侧软键旁的标签内容由SHORT on OFF 变为 SHORT ON off
c. 移除夹具上的“short bar”
测试夹具16047E校准
阻抗参数测量|校准
阻抗参数测量|测量步骤
1. 打开电源
2. 开机自检、校准
3. 选择测试模式
按[Meas]键后配合软键操作。如选择|Z|-Ө模式,其中曲线A代表|Z|,曲线B代表Ө。
阻抗参数测量|测量步骤
4. 输入起始、终止扫描参数
如:起始扫描参数为900 Hz,终止扫描参数为1.1kHz
a. 按 [Start] 键
b. 输入“900”,依次按 [9][0][0][x1] 键
c. 按 [Stop] 键
d. 输入“1.1”,依次按
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