多晶体衍射的实验方法-1剖析.pptVIP

气体计数管（盖革计数器，电离室，正比计数器） 闪烁计数器 固体探测器（半导体计数器） 阵列式固体探测器（一维，二维） 位敏探测器（一维，二维） 影像板（Image Plate IP） 电荷耦合探测器（Charge Coupled Device CCD） 能量分辨率较高, 不用单色器可得??1 扫描型，能量色散型 影像板（IP） 电荷耦合探测器（CCD） 核心是一块芯片 像元尺寸 44 ?m ，光子增益 91，读出时间 0.5s~10s 电荷耦合探测器（CCD） 电荷耦合探测器（CCD） 阵列式半导体计数器 HgI2 不需冷却 固体探测器 固体探测器 位敏探测器 位置灵敏探测器（PSPC） 位敏探测器 位敏探测器 影像板（IP） 影像板（IP） X射线衍射仪的四大组成部分： 入射线源：发生X射线 衍射测角部分：实现和探测X射线衍射 计数和记录电路：衍射花样记录和强度测量 计算机系统：控制衍射仪运转、处理和储存数据、数据分析等 （1） 高稳定度X射线源　提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度 （2） 样品及样品位置取向的调整机构系统。样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。 （3） 射线检测器　检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得