GTR和IGBT动态特性测试的研究.docVIP

文章编号:1006-155X(200002-100-04 GTR和IG BT动态特性测试的研究 彭　端,彭珞丽 (广东工业大学电子信息工程系,广州　510643 摘要:研究一种采用通用示波器测试G TR和IG BT动态特性的简易装置,介绍由intel8098单片机硬软件技术构成PW M信号脉冲源,给出了进口G TR模块2DI50D-100(50A/1200V和IG BT模块2M BI50L-120(50A/1200V的测试结果. 关键词:动态特性;测试;绝缘栅双极型晶体管;双极型晶体管 中图分类号:T N32　　　文献标识码:A 　　随着新型电力电子器件的迅速发展,电力电子技术逐渐在国民经济中得到广泛应用.然而国内在开发和研制G TR和IG BT电力电子应用装置时,大都以国外器件制造商提供的G TR和IG BT模块产品样本给出的特性参数作为电力电子电路设计及参数选择的依据,缺乏简易便捷的测试手段对进口G TR和IG BT模块进行动态特性测试,更无法判别模块质量的优劣,因此研究G TR和IG BT动态特性测试方法和简易便捷装置是G TR和IG BT模块应用的基础性工作[1]. 1　G TR和IG BT模块动态特性测试原理 　　G TR和IG BT模块在电力电子装置中大都运行在导通、关断、截止、开通四种状态,且以高频开关速度转换(一般开关频率大于1kH z,其动态特性是在一定驱动脉冲和负载、散热条件和温度下,观测G TR和IG BT模块的导通时间和关断时间、导通饱和电压V CE(S AT等,测试方法及标准参照国标G B4587-84双极型晶体管测试方法和G B/T-17007-1997 绝缘栅双极型晶体管测试方法[2~3]. G TR和IG BT模块分别是电流型控制开关器件 和电压型控制开关器件,动态特性测试电路条件信 号源部分相同,而驱动电路、保护电路、测试电路、 辅助电源等部分不同,因此测试装置可采用模块化 设计结构以适应G TR和IG BT模块在同一套装置 中测试的需要,G TR和IG BT模块动态特性测试原 理电路如图1、图2所示[4]. 测试电路由微机控制占空比可调脉冲源、G TR 或IG BT驱动及保护电路、电流测量元件LE M模 块、负载电阻R L、可调直流电压源V DD、被测G TR 和IG BT模块、辅助电源等部分组成. 图1　G TR动态特性测试电路图2　IG BT动态特性测试电路 收稿日期:1999-09-27 作者简介:彭端(1963-,男,湖北武汉人,副教授,从事电力电子技术应用的教学和科研. 基金来源:广东省重点科技攻关项目(943301-2056. 第33卷第2期 2000年4月 武汉水利电力大学学报 J.Wuhan Univ.of Hydr.E lec.Eng. V ol.33N o.2 Apr.2000 　　图1中,LE M1测量G TR基极电流I b,经测量电阻转换成电压信号输出到示波器通道1(CH1中,LE M2测量G TR集电极电流I c,经测量电阻转换成电压信号输出到示波器通道2(CH2中,经标定即可在示波器上显示G TR基极电流I b和集电极电流T c的波形,反映G TR动态特性曲线[2].同理如图2所示,V GE是IG BT栅-射极电压信号输出到示波器通道1(CH1中,LE M2测量IG BT集电极电流I c,经测量电阻转换成电压信号输出到示波器通道2(CH2中,经标定即可在示波器上显示IG2 BT栅-射极电压V GE和集电极电流I c的波形,反映IG BT动态特性曲线[5]. 2　微机控制脉冲信号源 微机控制脉冲信号源由intel8098单片机硬软技术构成可控PW M脉冲源,2位LE D显示占空比,监控程序存放在27C256EPROM中,晶振6MH z, intel8098PW M端输出PW M脉冲周期128μs,脉冲频率7.812kH z,设有5只键盘,键值分别为01H、02H、03H、04H、05H,intel8279分别读出并转换成PW M控制字,送入intel8098单片机的PW M寄存器中,intel8098单片机P2.5引脚分别输出占空比为10%、20%、30%、40%、50%的PW M脉冲,经光电耦合器隔离送到驱动电路.过流保护信号经intel 8098单片机I NT外中断,监控程序执行过流保护中断服务程序,封锁PW M脉冲.由于PW M寄存器是8位,数字最大误差为01H,即0.5μs,微机控制脉冲信号源构成框图如图3所示[6] . 图3　微机控制脉冲源 3　G TR模块驱动及保护电路 为了实现器件安全无损测试,必须设计完善的驱动及保护电路,且驱动波形满足器件测试标准的要求,G TR驱动及保护电路如图4所示.PW M信号经与非门N6、光耦V01传送给G TR