一种针对软错误的流水线电路加固方案.pdfVIP

一种针对软错误的流水线电路加固方案.pdf

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DOI :10.14188/j.1671 -88 6.2010.02.011 56 2 () Vol.56 No.2    2010 4 J.Wuhan Univ.(Nat.Sci.Ed.) Apr.2010, 240 ~ 244 :1671-88 6(2010)02-0240-05 一种针对软错误的流水线电路加固方案 1 2 2 1 1 吴珍妮 , 梁华国 , 黄正峰, 陈秀美, 曹 源 (1.合肥工业大学计算机与信息学院, 安徽 合肥 2 0009; 2.合肥工业大学 电子科学与应用物理学院, 安徽 合肥 2 0009)    :, .——— (single event upset, SEU), (radiation hardened by design latch, RHBDL), RHBD-DFF, , ., , ., , .   :;;;; :TP 19.76   :A , , 0   (soft error rate, SER), , SER   α , [ 1] , . . , (very large scale integrated circuits, , VLSI), 1999 2000 , RHBD-DFF , S UN . . 2001 , Cypress 1  . , 80%~ 90% , , . [2] . , . (radiation , hardened by design latch, RHBDL ) , (sin- RHBD-DFF, RHBD-DFF [ ] gle event upset, SEU ) ., . 1 ns , , , (single event transient, SET ). SEU SET . .SEU , , (million in-   :2010-01-02     E-mail:huagulg @ :(606 060);; (20080 590006);(2008Z014) :, , , . E-mail:jenny .w @16 .com 2 : 241 structions per second, MIPS ) 500 km , [ 4] . dt , RHBD-DFF SEU ,

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