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1.5 并行I/O端口 ;2.5.1 P0端口;1.位电路结构
P0口某一位的电路包括:
(1) 一个数据输出锁存器,用于数据位的锁存
(2) 两个三态的数据输入缓冲器。
(3) 一个多路转接开关MUX,使P0口可作通用I/O口,或地址/数据线口。
(4) 数据输出的驱动和控制电路,由两只场效应管(FET)组成,上面的场效应管构成上拉电路。
; 2. 工作过程分析
(1)P0口作为地址或数据总线使用
CPU发出控制信号为高电平,打开上面的与门,使MUX打向上边,使内部地址/数据线与下面的场效应管反相接通。此时由于上下两个FET处于反相,形成推拉式电路结构,大大提高负载能力。
(2) P0口作通用的I/O口使用
CPU发来的“控制”信号为低电平,上拉场效应管截止,MUX打向下边,与D锁存器的Q*端接通。
a. P0作输出口使用
来自CPU的“写入”脉冲加在D锁存器的CP端,内部总线上的数据写入D锁存器,并向端口引脚P0.x输出。
注意:由于输出电路是漏极开路(因为这时上拉场效应管截止),必须外接上拉电阻才能有高电平输出(这时就不为双向口)。;b. P0作输入口使用
区分“读引脚”和“读锁存器”。
“读引脚”信号把下方缓冲器打开,引脚上的状态经缓冲器读入内部总线;
“读锁存器”信号打开上面的缓冲器把锁存器Q端的状态读入内部总线。
3.P0口的特点
P0口具有如下特点:P0口为双功能口——地址/数据复用口和通用I/O口。
(1)当P0口用作地址/数据复用口时,为一个真正的双向口,用作外扩存储器,输出低8位地址和输出/输入8位数据。
(2)当P0口用作通用I/O口时,由于需要在片外接上拉电阻,端口不存在高阻抗(悬浮)状态,因此为一个准双向口。
一般情况下,如果P0口已作为地址/数据复用口,就不能再作为通用I/O口使用。;补充:单片机的引脚(P0口);;;;;; 1.5.2 P1端口
字节地址90H,位地址90H~97H。
P1口某一位的位电路结构如图2-7所示。;1.位电路结构
P1口位电路结构由三部分组成:
(1)一个数据输出锁存器,用于输出数据位的锁存。
(2)两个三态的数据输入缓冲器BUF1和BUF2,分别用于锁存器数据和引脚数据的输入缓冲。
(3)数据输出驱动电路,由一个场效应管(FET)和一个片内上拉电阻组成。
2.工作过程分析
P1口只能作为通用的I/O口使用。
(1)P1口作为输出口时,若CPU输出1,Q=1,Q*=0,场效应管截止,P1口引脚的输出为1;若CPU输出0,Q=0,Q*=1,场效应管导通,P1口引脚的输出为0。;(2)P1口作为输入口时,分为“读锁存器”和“读引脚”两种方式。“读锁存器”时,锁存器的输出端Q的状态经输入缓冲器BUF1进入内部总线;“读引脚”时,先向锁存器写1,使场效应管截止,P1.x引脚上的电平经输入缓冲器BUF2进入内部总线。
3.P1口的特点
P1口由于有内部上拉电阻,没有高阻抗输入状态,称为准双向口。作为输出口时,不需要在片外接上拉电阻。
P1口“读引脚”输入时,必须先向锁存器写1。 ;1.5.3 P2口
字节地址为A0H,位地址A0H~A7H。P2口是一个双功能口,P2口某一位的位电路结构如图2-8所示。;1.位电路结构
P2口某一位的电路包括:
(1)一个数据输出锁存器,用于输出数据位的锁存。
(2)两个三态数据输入缓冲器BUF1和BUF2,分别用于锁存器数据和引脚数据的输入缓冲。
(3)一个多路转接开关MUX,它的一个输入是锁存器的Q端,另一个输入是内部地址的高8位。
(4)输出驱动电路,由场效应管(FET)和内部上拉电阻组成。 ;2.工作过程分析
(1)P2口用作地址总线
在内部控制信号作用下,MUX与 “地址”接通。当“地址”线为0时,场效应管导通,P2口引脚输出0;当“地址”线为1时,场效应管截止,P2口引脚输出1。
(2)P2口用作通用I/O口
在内部控制信号作用下,MUX与 锁存器的Q端接通。
CPU输出1时,Q=1,场效应管截止,P2.x引脚输出1;CPU输出0时,Q=0,场效应管导通,P2.x引脚输出0。
输入时,分为“读锁存器”和“读引脚”两种方式。
“读锁存器”时,Q端信号经上方的输入缓冲器进入内部总线;“读引脚”时,先向锁存器写1,使场效应管截止,P2.x引脚上的电平经下方的输入缓冲器进入内部总线。;
3.P2口的特点
作为地址输出线使用时,P2口可以输出外存储器的高8位地址,与P0口输出的低8位地址一起构成16位地址线。
作为通用I/O口使用时,P2口为一个准双向口。功能与P1口一样。
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